[发明专利]计算机绘图的公差检测系统及其方法有效

申请号：	201210401767.6	申请日：	2012-10-19
公开（公告）号：	CN103778267B	公开（公告）日：	2017-03-29
发明（设计）人：	陈学良;林俊鸿;曾协淳;黄东豪;黄舒慧	申请（专利权）人：	英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
主分类号：	G06F17/50	分类号：	G06F17/50
代理公司：	北京律诚同业知识产权代理有限公司11006	代理人：	梁挥,常大军
地址：	201114 上海***	国省代码：	上海;31
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摘要：
搜索关键词：	计算机绘图公差检测系统及其方法
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【说明书】：

技术领域

本发明涉及一种检测系统与其方法，特别涉及一种计算机绘图的公差检测系统及其方法。

背景技术

公差分析是指在满足产品功能、性能、外观和可装配性等要求的前提下，合理定义和分配元件和产品的公差，优化产品设计，以最小的成本和最高的质量制造产品。

公差分析作为面向制造和装配的产品设计中非常有用的工具，可以帮助机械工程师：实现合理设定元件的公差以减少元件的制造成本、判断元件的可装配性，判断元件是否在装配过程中发生干涉与判断元件装配后产品关键尺寸是否满足外观、质量以及功能等要求。

当通过公差分析发现产品设计不满足要求时，一般有两种方法来解决问题。其一是通过精密的元件公差来达到要求，但这会增加元件的制造成本；其二是通过优化产品的设计（例如，增加装配定位特征）来满足产品设计要求。

而现有的公差分析均由人工选择相关图面并将数据填入公差分析表中。并利用尺寸链（dimensional chain）的校正，藉以找出可以调整的元件位置。一个尺寸链是一组互相连接的尺寸而形成一个几何封闭环。可以是一个元件上多个元件位置或组装成品中多个元件的尺寸。请参考图1所示，其为现有尺寸链的标示示意图。尺寸链由各个局部元件（输入尺寸）和一个封闭元件（结果尺寸）而组成。局部元件（A、B、C、D、E、F与G）可以是图面上定义的尺寸或是加工，组装的尺寸。结果整体的尺寸大小，公差和极限偏差取决于局部元件的尺寸和公差。

然而尺寸和公差填入的过程中，可能会发生元件的尺寸判断有误或尺寸链方向错误等情况。这将会让尺寸链无法达到封闭的要求，使得进行公差分析时出现误差。

发明内容

鉴于以上的问题，本发明的目的在于提供一种计算机绘图的公差检测系统，应用于绘图程序在撷取结构组件中多个局部元件的尺寸链公差的处理。

本发明所揭露的计算机绘图的公差检测系统包括：显示单元、输入单元、储存单元与处理单元。显示单元显示视觉界面，视觉界面用以显示局部元件与所选择的特征点；输入单元接收移动指令、目标选择指令与特征选择指令，从显示单元中选择任局部元件与特征点；储存单元储存结构组件与公差分析表；处理单元连接于显示单元与储存单元，处理单元根据目标选择指令用以选择视觉界面中的局部元件中的目标点；其中，处理单元根据移动指令的移动方向决定局部元件的尺寸链方向，处理单元根据特征选择指令且沿着尺寸链方向上选择特征点，并量测特征点的间距；在完成所有的特征点后，处理单元根据目标点与特征点之间的距离与间距计算尺寸链公差并将尺寸链公差记录于公差分析表中。

本发明另提出一种计算机绘图的公差检测方法，其包括以下步骤：选择局部元件；从所选的局部元件中任选目标点；以目标点为基准并选择尺寸链方向；沿着尺寸链方向在局部元件中选择特征点并计算特征点的间距；以特征点为基准并重复选择新的特征点与计算间距的步骤；将所有的特征点与所属的间距记录于公差分析表中。

本发明所提出的计算机绘图的公差检测系统及其方法可以自动选择局部元件的尺寸链并计算相应的公差是否符合所需。本发明可以应用在各式的计算机绘图中，并将局部元件的相关尺寸带入公差分析表中，藉以简化不同绘图软件间转换时的作业时间。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为现有尺寸链的标示示意图。

图2为本发明的架构示意图。

图3为本发明的运作流程示意图。

图4A，其为本发明的尺寸链检测与自动记录公差分析表的示意图。

图4B，其为本发明的尺寸链检测与自动记录公差分析表的示意图。

图4C，其为本发明的尺寸链检测与自动记录公差分析表的示意图。

图4D，其为本发明的尺寸链检测与自动记录公差分析表的示意图。

图4E，其为本发明的尺寸链检测与自动记录公差分析表的示意图。