[发明专利]光学元件折射率的检测方法及其检测装置

权利要求书

1.光学元件折射率的检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

1）在第一样品池（4）和第二样品池（5）中装有相同的等量的折射液，光源（1）发出的光经过准直透镜（2）和光缝（3）后，分别平行入射到第一样品池（4）和第二样品池（5）中，入射光通过第一样品池（4）和第二样品池（5）以及第一补偿器（10）和第二补偿器（11）后，经会聚透镜（7）会聚于柱面镜（8），在柱面镜（8）后的观察管（9）中看到上下两列干涉条纹，一列由光缝（3）的上半部分两束光干涉形成，一列由光缝（3）的下半部分两束光干涉形成，上、下半部分的光程差不变，干涉条纹固定不动，上半部干涉条纹和下半部干涉条纹对齐；

2）将被测的光学元件放入第一样品池（4）中，上半部干涉条纹会相对下半部干涉条纹有移动；

3）引起的光程差为：Δ=(n₂-n₁)L=K λ

上式中：λ—光源波长；K—对应光程差的干涉级；L—被测的光学元件试样沿光轴方向的长度；n₁—被测的光学元件的折射率；n₂—样品池内折射液的折射率；

通过观察干涉条纹的移动情况，计算出干涉级次，代入上式中，得到被测的光学元件的折射率值n₁。

2.如权利要求1所述的光学元件折射率的检测方法，其特征在于，所述步骤3）为：当上半部干涉条纹相对下半部干涉条纹向上移动时，说明n₁>n₂，这时在第一样品池（4）中加入高折射率的折射液；当上半部干涉条纹相对下半部干涉条纹向下移动时，说明n₁<n₂，这时在第一样品池（4）中加入低折射率的折射液，慢慢滴加折射液并混匀，使第一样品池（4）和第二样品池（5）中的折射液均匀一致，同时观察干涉条纹，直到上半部干涉条纹和下半部干涉条纹对齐为止，然后将样品池内的折射液取出，测试其对应干涉波长的折射率值，即得到被测光学元件的折射率值n₁。

3.如权利要求2所述的光学元件折射率的检测方法，其特征在于，步骤3）所述测试样品池内的折射液对应干涉波长的折射率值是采用V棱镜折光仪或测角仪测试。

4.如权利要求2所述的光学元件折射率的检测方法，其特征在于，所述被测光学元件是异型光学元件。

5.如权利要求1所述的光学元件折射率的检测方法，其特征在于，所述被测光学元件是形状尺寸规整的方形或圆形的小型光学元件。

6.如权利要求1所述的光学元件折射率的检测方法，其特征在于，所述将被测的光学元件放入第一样品池（4）中是通过第一样品池（4）上的小孔（6）将被测的光学元件放入第一样品池（4）中。

7.权利要求1所述的光学元件折射率的检测方法的检测装置，其特征在于，按光路依次为：光源（1）、准直透镜（2）、光缝（3）、样品池、补偿器、会聚透镜（7）、柱面镜（8）和观察管（9），所述样品池包括第一样品池（4）和第二样品池（5），所述补偿器包括第一补偿器（10）和第二补偿器（11）。

8.如权利要求7所述的光学元件折射率的检测装置，其特征在于，在所述第一样品池（4）上开有小孔（6）。

9.如权利要求7所述的光学元件折射率的检测装置，其特征在于，所述第一样品池（4）和第二样品池（5）是连通的。