[发明专利]一种光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置及其试验方法

权利要求书

1.一种光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置，其特征在于，所述试验装置包括接头盒①、试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④、试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆⑤、电压源、光纤衰减监测仪⑦和紫外成像仪； 

所述电压源的高压正电极③通过加电压线路②与接头盒①上盒体连接；所述电压源的高压负电极接地；所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④一端与接头盒①上盒体连接，另一端通过尾纤与光纤衰减监测仪⑦连接；所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆⑤一端与接头盒①下盒体连接，另一端通过尾纤⑥与光纤衰减监测仪⑦连接；所述紫外成像仪在白天非黑条件下用于观察电晕试验过程中接头盒①上电晕的产生与消失。 

2.如权利要求1所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置，其特征在于，所述电压源包括高电压正电极③和高电压负电极。 

3.如权利要求1所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置，其特征在于，所述接头盒①下盒体接地。 

4.如权利要求1所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置，其特征在于，所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④与接头盒①上盒体连接；所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆⑤与接头盒①下盒体连接，其中的光纤与盒体中相熔接的预埋尾纤为光纤复合架空相线OPPC接头盒内部有预埋尾纤。 

5.如权利要求1所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置，其特征在于，所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④包括光单元；所述光单元包括光纤；所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆⑤包括光单元；所述光单元包括光纤。 

6.一种光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述试验方法针对工作电压等级为330kV及以上的接头盒产品进行，包括下述步骤： 

（1）所述接头盒①盒体内部光纤接续盘放； 

（2）所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④接续； 

（3）所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆⑤接续； 

（4）所述接头盒①盒体密封； 

（5）配置所述光纤衰减监测仪⑦； 

（6）配置所述紫外成像仪； 

（7）确定接头盒①的电晕起始电压和电晕熄灭电压。 

7.如权利要求6所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述步骤（1）中，所述光纤复合架空相线OPPC接头盒①内部有预埋尾纤，试验前将预埋尾纤的多芯 光纤与试验辅助延长光缆光单元内部光纤串接，使串接的光纤总长度大于500米。 

8.如权利要求7所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述接头盒①上盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④光单元内部光纤串接；所述接头盒①下盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆光单元内部光纤串接。 

9.如权利要求7所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述光纤总长度为接头盒①上盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④光单元内部光纤串接的光纤长度加上接头盒①下盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆光单元内部光纤串接的光纤长度。 

10.如权利要求9所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，经过接续的预埋光纤及光纤接头放置于接头盒①盒体内部，将熔接时经过热缩管保护的光纤接头固定，且余留光纤盘放的曲率半径不小于30mm。 

11.如权利要求6所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述步骤（2）中，将所述接头盒①上盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆④光单元内部光纤串接。 

12.如权利要求6所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述步骤（3）中，将所述接头盒①下盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆光单元内部光纤串接。 

13.如权利要求6所述的光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述步骤（4）中，接头盒①盒体密封采用密封圈结合热熔胶实现；即用热熔胶将密封圈与盒体粘连在一起实现。