[发明专利]具改良式压钳的测试座及使用该测试座的动态测试设备有效

专利信息
申请号: 201210389637.5 申请日: 2012-10-15
公开(公告)号: CN103727971B 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: 刘光祥;林威成 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 改良 式压钳 测试 使用 动态 设备
【权利要求书】:

1.一种具改良式压钳的测试座,包括:

一基座,开设有一容置槽;

一测试埠,设置于该基座的该容置槽内;

一导引座,开设有一测试槽,置于该基座的该容置槽内,并位于该测 试埠上方,该导引座与该测试埠间夹设有多个第一弹性元件;

一长压钳,设置于该基座的一侧,一端具有一压头,且该压头开设有 至少一凹槽及具有一图样的截面部;

一短压钳,设置于该基座上的该长压钳的相对侧;以及

二按压件,枢设于该基座上相对的二侧,并分别覆盖于该长压钳及该 短压钳的一端,该二按压件与该基座间夹设有多个第二弹性元件。

2.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的截面部为多边形、 十字形、蝴蝶结形、圆形、或其组合。

3.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的至少一凹槽为多边 形、圆形、或其组合。

4.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的截面部为对称或非 对称的几何形状。

5.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的至少一凹槽为对称 或非对称的几何形状。

6.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的至少一凹槽对应一 待测传感器的电路图案。

7.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的截面部对应接触一 待测传感器的非电路图案。

8.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的截面部的尺寸与一 待测传感器的尺寸相同。

9.如权利要求1所述的测试座,其中,该压头的截面部设置一弹性 层,用以抵触一待测传感器。

10.一种使用具改良式压钳测试座的动态测试设备,包括:

一分料装置;

一动态测试装置;

一机台,置于该分料装置下方,该机台上承载有该动态测试装置;

多个测试座,分别布设于该动态测试装置中,每一测试座包括有开设 有一容置槽的一基座、一测试埠、开设有一测试槽的一导引座、一长压钳、 一短压钳、及二按压件,该测试埠及该导引座依序设置于该容置槽内,且 该导引座与该测试埠间夹设有多个第一弹性元件,该长压钳及该短压钳分 别设置于该基座的相对侧,且分别覆盖有该二按压件,该长压钳的一端具 有一压头,且该压头开设有至少一凹槽及具有一图样的截面部,该二按压 件与该基座间夹设有多个第二弹性元件;以及

一主控制器,分别电性耦接该多个测试座及该分料装置。

11.如权利要求10所述的动态测试设备,其中,该压头的截面部为 多边形、十字形、蝴蝶结形、圆形、或其组合。

12.如权利要求10所述的动态测试设备,其中,该压头的该至少一 凹槽为多边形、圆形、或其组合。

13.如权利要求10所述的动态测试设备,其中,该压头的截面部为 对称或非对称的几何形状。

14.如权利要求10所述的动态测试设备,其中,该压头的至少一凹 槽为对称或非对称的几何形状。

15.如权利要求10所述的动态测试设备,其中,该压头的该至少一 凹槽对应一待测传感器的电路图案。

16.如权利要求10所述的动态测试设备,其中﹐该压头的截面部对 应接触一待测传感器的非电路图案。

17.如权利要求10所述的动态测试设备,其中,该动态测试装置包 括有:具有一往复滑台的一直线往复装置、一固定座、一翻转架、及一承 载台,该固定座设置于该往复滑台上,该翻转架枢设于该固定座上并沿一 第一轴旋转,该承载台枢设于该翻转架上并沿一第二轴旋转,该第一轴、 及该第二轴彼此垂直正交。

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