[发明专利]基于双谱分析的结构微裂纹混频非线性超声检测方法

权利要求书

1.一种基于双谱分析的结构微裂纹混频非线性超声检测方法，其特征在于：检测方法步骤如下：

1）根据激励探头的频率响应特性，选取幅值响应最大的一点频率作为激励探头的激励频率；根据激励/接收探头的频率响应特性在幅值衰减小于-3dB的频率范围内并综合考虑接收系统特性，确定激励/接收探头的频率变化范围；

2）将两探头分别置于试件的两端；同时激励两探头，并用SNAP系统追踪和频和差频信号；

3）根据和频和差频信号的追踪结果，选取幅值最大的点作为激励/接收探头的频率；

4）按照上述选定的频率激励激励探头和激励/接收探头，用示波器采集此时的激励/接收探头接收到的信号；

5）对该接收信号进行双谱分析，根据分析结果中是否产生差频和频对应的非零特征点，即可判断是否存在结构微裂纹；

6）保持选定的激励信号频率不变，通过设置不同的激励信号延时，其中一个激励信号延时为固定值，另一个激励信号延时值变化，使两列波在试件长度方向上依次相遇；用SNAP系统追踪该过程时的和频和差频信号；

7）根据追踪结果，当两列波在微裂纹附近处相遇时，差频和频信号幅值最大，据此可判断微裂纹所在位置。