[发明专利]漏电辉点拦检方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及液晶面板技术领域，尤其涉及一种漏电辉点拦检方法及装置。

背景技术

TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器）面板的漏电辉点指的是，由TFT开关漏电而形成的辉点。参照图1，图1为TFT开关异常结构示意图；如图1所示，当TFT开关异常时，液晶面板上会出现辉点，影响液晶面板的使用效果。

考虑到检测成本，目前现有技术在液晶面板的Cell制程阶段仍采用1D1G点灯方式对其进行检测，即提供一个数据线的驱动电路，与栅极侧通过导电胶电性连接的导电端子是否启用进行配合，检测漏电辉点；但1D1G点灯驱动检测方式只能点亮黑、白和灰这种单色画面，具体为：对于VA模式而言，在某帧显示为黑时，导电端子导通，而测试帧对数据线并无信号输入，潜在存在的已损坏的TFT对应的像素位置同样显示为黑；若某帧显示为白时，由于白色为三原色混合而成，需要液晶在电场力的作用下发生偏转透光，此时，导电端子导通，而测试帧对数据线也输入测试信号；通常情况下，数据线输入的测试信号仍可直接作用于像素点击与存储电容，潜在存在的已经损坏的TFT对应的像素位置也同样地显示为白色；而灰色作为黑色和白色之间的一种色调，其中潜在已经损坏的TFT对应的像素显示灰色的原因类似于白色，在此不再赘述。由此可见，现有技术中，在液晶面板的Cell制程却无法检测潜在的因TFT开关损坏而引发的漏电辉点。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种漏电辉点拦检方法及装置，旨在拦检液晶面板在Cell制程阶段的漏电辉点。

本发明公开了一种漏电辉点拦检方法，包括以下步骤：

提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；

将所述栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；

通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。

优选地，所述通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：

驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点；

或者，驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。

优选地，所述拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：

在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点；

所述拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：

在驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子时，若第一区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。

优选地，所述第一区域和第二区域的划分由所述栅极侧上的覆晶薄膜COF的个数决定。

优选地，所述第一区域和第二区域的划分由所述栅极侧上的COF个数决定具体包括：

所述栅极侧有偶数个COF时，所述第一区域和第二区域等分；

所述栅极侧有奇数个COF时，所述第一区域和第二区域不等分；

所述栅极侧仅有一个COF时，所述栅极侧平均分为上下两个区域。

本发明还公开一种漏电辉点拦检装置，包括：

开关信号产生器，用于提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动；

将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；将所述栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；

开关信号转接单元，用于通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。

优选地，所述开关信号转接单元具体用于：

驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点；

或者，驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。

优选地，所述开关信号转接单元拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：

在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点；

所述开关信号转接单元拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：