[发明专利]图像形成设备有效

专利信息
申请号: 201210371196.6 申请日: 2012-09-29
公开(公告)号: CN103034089A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 大久保尚辉;中岛里志;渡边健二 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G03G15/04 分类号: G03G15/04;G03G15/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 欧阳帆
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 形成 设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及使用电子照相系统的图像形成设备。

背景技术

在电子照相系统的图像形成设备中,激光束被发射到旋转的感光鼓上,从而使感光鼓的表面曝光以便形成静电潜像。已知的是,在对于高速打印而显影调色剂时,由于相对于旋转方向的扫描间隔的曝光位置变化或者由于感光鼓的旋转变化,在扫描之间出现位置偏差。

由于在图像形成中提供给图像处理部件的充电偏置定时的不一致(nonconformity)或者由于旋转开始定时的不一致,位置偏差使图像质量劣化或者减少寿命。

在日本专利公开No.S63-055708中,在感光鼓上描绘的静电潜像和通过静电潜像改变的感光鼓的表面电位被检测,并且基于检测到的电位信号控制激光束的强度。这可以防止由在激光束和感光鼓之间周期性地产生的垂直扫描方向上的相对位置偏差所引起的图像质量的劣化。

在日本专利申请公开No.H06-274077中,在感光鼓从曝光位置旋转到转印位置的同时,使感光鼓旋转的齿轮旋转整数圈,以便防止由于感光鼓的旋转不均匀(unevenness)引起的旋转方向上的调色剂图像的膨胀和收缩。提出了在曝光位置和转印位置之间的感光鼓的旋转不均匀的均等化(equalization)。

发明内容

然而,在日本专利公开No.S63-055708中,由于例如设备的主体中的温度升高,出现在曝光位置和处理装置之间的相对的位置偏差。在那种情况下,难以检测在温度增大前后的从曝光位置到可以检测静电潜像电位的处理装置(显影辊、转印辊和充电辊)的相对位置偏差。

此外,驱动源(诸如马达)、惰轮齿轮(idler gear)和感光部件齿轮的旋转变化被结合在感光鼓的旋转和驱动中。结果,感光鼓的在形成静电潜像时的旋转速度和在到达处理装置处时的旋转速度不匹配,并且旋转不均匀被反映在检测时间上。存在通过检测器的检测的检测时间偏离并且检测精度降低的问题。

在日本专利申请公开No.H06-274077中,在曝光位置与转印位置之间的感光鼓的旋转不均匀可以被均等化,以便防止由感光鼓的旋转不均匀引起的旋转方向上的调色剂图像的膨胀和收缩。然而,感光鼓的旋转速度的检测的检测精度未被提高。

本发明的一个目的在于,提供一种图像形成设备,其包括:感光部件;旋转以便驱动感光部件的旋转部件;光发射器,用于将光发射到感光部件以形成潜像;检测器,用于检测在感光部件上形成的潜像到达检测位置;测量装置,测量时间;以及校正装置,用于根据光发射器的光发射位置与基准光发射位置的变化执行校正,其中测量装置测量通过光发射器在感光部件上形成潜像时与通过检测器检测到到达检测位置时之间的时间间隔,其中校正装置基于由测量装置测量的时间间隔执行校正,以及其中在旋转部件旋转整数圈时,通过光发射器在基准光发射位置处在感光部件上形成的潜像到达检测位置。

从以下参考附图的示例性实施例的描述中本发明更多的特征将变得清晰。

附图说明

图1是示出根据本发明的图像形成设备的第一实施例的配置的截面的说明图。

图2是示出布置在图像形成设备上的高压电源设备的配置的框图。

图3A是示出根据第一实施例的通过曝光装置的曝光位置和用于检测的静电潜像的检测位置的图。

图3B是从马达到布置在感光鼓上的感光部件齿轮的驱动配置图。

图4A是根据第一实施例的示出由齿隙(backlash)所引起的感光鼓的一圈旋转中的马达齿轮的速度变化(振幅)的图。

图4B是根据第一实施例的示出由齿隙所引起的感光鼓的一圈旋转中产生的惰轮级齿轮(idler stage gear)的速度变化(振幅)的图。

图5A是根据第一实施例的在横轴上示出基于齿隙的感光鼓的一个周期中的表面上的位置并且在纵轴上示出速度变化的曲线图。图5A是包括示出在感光鼓的表面上的点经过曝光位置时的速度变化的点划线、示出在感光鼓的表面上的点经过检测位置时的速度变化的长短交替虚线、以及示出在曝光位置处的速度变化与检测位置处的速度变化之间的差的实线的图。

图5B是根据第一实施例的示出马达齿轮的在曝光位置处的周期与检测位置处的周期之间的差是0的图。

图6A是根据第一实施例的示出惰轮级齿轮的在曝光位置处的周期与检测位置处的周期之间的差是0的图。

图6B是根据第一实施例的示出马达齿轮和惰轮级齿轮的速度变化的和的在曝光位置处的周期与检测位置处的周期之间的差是0的图。

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