[发明专利]双黑体箱调温水浴比辐射率测定仪及其测定方法有效
申请号: | 201210363469.2 | 申请日: | 2012-09-26 |
公开(公告)号: | CN103674260A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 张仁华;孙晓敏;田静;朱治林;唐新斋;苏红波;陈少辉;唐伯惠;吴骅;范熙伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地理科学与资源研究所 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 刘明华 |
地址: | 100101 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 黑体 调温 水浴 辐射 测定 及其 方法 | ||
1.一种双黑体箱调温水浴比辐射率测定仪,其特征在于:
所述测定仪包括两个黑体箱、水浴控制仪(15)、红外测温仪和托盘(20),所述两个黑体箱之间设有中空轴(10),两个黑体箱围绕中空轴(10)转动以转换位置;所述两个黑体箱包括为室温箱(1)和调温箱(2),所述调温箱(2)和室温箱(1)中各含有一个黑体筒,其中位于调温箱(2)内的为调温黑体筒(5),位于室温箱(1)内的为室温黑体筒(4),所述黑体筒的筒壁与其黑体箱的周壁形成的槽为黑体箱的水浴槽;
所述水浴控制仪(15)连有一对输水管(13),一对所连输水管(13)从下而上穿过所述中空轴(10),继而分别与其中一个黑体箱的2个进出水接口(14)相连,所述调温箱(2)、室温箱(1)上同一位置处均设有直径完全相等,且顶面与底面贯通的观测圆孔,所述室温箱(1)的观测圆孔为室温箱观测圆孔(7),所述调温箱(2)的观测圆孔为调温箱观测圆孔(8)。
2.根据权利要求1所述的一种双黑体箱调温水浴比辐射率测定仪,其特征在于:
所述两个黑体箱的顶面均设有两个无底倒圆锥(3、6),所述倒圆锥内外壁面喷涂无光黑体漆。
3.根据权利要求1或2所述的一种双黑体箱调温水浴比辐射率测定仪,其特征在于:
所述调温黑体筒(5)和室温黑体筒(4)的顶面和底面与其所处温箱的顶面和底面之间密封,且各黑体圆筒筒壁的顶面和底面与其所在黑体箱的顶面和底面在观测孔处密封连接。
4.根据权利要求1或2所述的一种双黑体箱调温水浴比辐射率测定仪,其特征 在于:
所述室温箱(1)与调温箱(2)在同一可调节高度的托架(9)上;
所述托盘(20)由可移动的三脚架(21)支撑。
5.根据权利要求1或2所述的一种双黑体箱调温水浴比辐射率测定仪,其特征在于:
所述调温箱(2)的顶面由有机玻璃板制成。
6.一种使用如前述任一项权利要求所述的双黑体箱调温水浴比辐射率测定仪测定比辐射率的方法,其特征在于包括以下步骤:
A、测量室温箱(1)的温度:测量室温,打开水浴控制仪(15),将水浴温度设定在室温以上,该水浴控制仪(15)以外循环方式通过水泵和输水管(13)将水注入调温箱(2),待调温箱(2)内温度稳定后,将红外测温仪镜头紧密对准室温箱(1)顶面的无底倒圆锥(3)黑体,读出室温箱(1)温度,即室温箱(1)辐射照度E1;
B、测量调温箱(2)的温度:将调温箱(2)与室温箱(1)围绕中空轴(10)旋转180°以转换位置,将红外测温仪镜头紧密对准调温箱(2)顶面的无底倒圆锥(6)黑体,读出调温箱(2)温度,即调温箱(2)辐射照度E2;
C、测量室温箱(1)目标物的辐射度:将三脚架(21)上的托盘(20)中放入待测物,并使待测物对准室温箱(1)底面的室温箱观测圆孔(7),将红外测温仪镜头同时紧密对准室温箱(1)顶面和底面的室温箱观测圆孔(7),得出室温箱(1)的目标物出辐射度M1;
D、测量调温箱(2)目标物的辐射度:保持托盘(20)位置不变,将调温箱(2)与室温箱(1)围绕中空轴(10)旋转180°以转换位置,将红外测温仪同时紧密对准调温箱(2)顶面和底面的调温箱观测圆孔(8),得出调温箱(2)的目标物出辐射度M2;
E、根据步骤A-D中的辐射度得出比辐射率测定ε1值。
7.根据权利要求6所述的一种测定比辐射率的方法,其特征在于:
所述调温箱(2)的温度至少比所述室温箱(1)的温度高13℃。
8.根据权利要求6或7所述的一种测定比辐射率的方法,其特征在于:
在所述步骤A之前,还包括校验红外测温仪的步骤:
将红外测温仪紧密对准室温箱(1)顶面的无底倒圆锥(3),对比红外测温仪显示的温度与室温温度;
围绕中空轴(10)转动两个黑体箱以转换两箱的位置,再将红外测温仪紧密对准调温箱(2)顶面的无底倒圆锥(6),对比红外测温仪显示的温度与水浴控制仪(15)的温度;
通过上述对红外测温仪测定温度和室温与水浴温度的对比,对红外测温仪进行校验。
9.根据权利要求6或7任一项所述的一种测定比辐射率的方法,其特征在于:
在所述步骤E之后,还包括改变调温箱(2)温度再多次测定比辐射率的步骤:
不断改变所述调温箱(2)的温度并保持调温箱(2)温度比所述室温箱(1)的温度高13℃以上,待调温箱(2)内温度稳定后,重复步骤A~E,求解出对应不同调温箱(2)温度的比辐射率测定εn值,n≥2,对比不同比辐射率测定值求解出最终值。
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