[发明专利]一种用于电路板测试的两段式治具

权利要求书

1.一种用于电路板测试的两段式治具，该治具包含上模（1）和下模（2），该上模（1）从上到下依次设有天板（3）、上针板（4）以及上载板（5），该下模（2）从下到上依次设有底板（6）、下针板（7）以及下载板（8），该上模（1）和下模（2）内还分别设有支撑装置、定位装置以及设置在上针板（4）和上载板（5）之间或下针板（7）和下载板（8）之间的复位弹簧（9），其特征在于，该治具的上模（1）和下模（2）内均设有探针组件和限位组件；

       所述的探针组件包含探针（10）、套置于探针（10）外部的针套（11）以及将针套（11）与上针板（4）或下针板（7）固定的针套环（12）；

       所述的探针（10）包括一般探针（101）和加长探针（102）两种；

       所述的限位组件包含分别设置在天板（3）和上针板（4）之间或底板（6）和下针板（7）之间的限高柱固定板（13），固定在所述限高柱固定板（13）上的限高柱（14），与所述限高柱固定板（13）连接的联动装置，以及与所述联动装置连接的气缸（15）。

2.如权利要求1所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的限高柱（14）在上模（1）内设置在所述限高柱固定板（13）的下表面。

3.如权利要求1所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的限高柱（14）在下模（2）内设置在所述限高柱固定板（13）的上表面。

4.如权利要求2或3所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的限高柱（14）的高度大于上针板（4）或下针板（7）的厚度。

5.如权利要求4所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的上针板（4）或下针板（7）上与所述限高柱（13）对应的位置上分别设有与该限高柱（13）适配的通孔。

6.如权利要求2或3所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的限高柱固定板（13）具有一个第一位置和一个第二位置。

7.如权利要求6所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的限高柱固定板（13）能够在所述气缸（15）通过所述联动装置的带动下沿垂直方向从第一位置运动到第二位置。

8.如权利要求7所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的限高柱固定板（13）位于第一位置时，所述一般探针（101）和加长探针（102）均能够透过上载板（5）或下载板（8）上对应的针点（16）与待测元件（17）上的待测点（18）接触。

9.如权利要求7所述的用于电路板测试的两段式治具，其特征在于，所述的限高柱固定板（13）位于第二位置时，仅有所述加长探针（102）能够透过上载板（5）或下载板（8）上对应的针点（16）与待测元件（17）上的待测点（18）接触。