[发明专利]使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种板卡测试系统及其方法，尤其涉及一种使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法。

背景技术

在电路板由生产线制造出来后，为了确保电路板的品质，通常会对由生产线制造出来的电路板进行各种测试，例如，使用电路板测试仪器（In-Circuit Tester,ICT）测试电路板。

电路板测试仪器会以两个阶段测试电路板，第一个阶段是开路短路测试（open/short test），在第一阶段中，电路板测试仪器会测试电路板上的电路是否正确，而后在第二阶段中，电路板测试仪器才会详细的确认电路板上的各个元件都可以正确运作。

事实上，开路短路测试是电路板测试仪器测试电路板的重要环节，原因在于电路板测试仪器需要避免因为电路板上的异常开路及/或短路，造成在对电路板上的各个元件进行详细测试时，误判各个元件没有正确运作。其中，为了加快电路板测试仪器测试电路板的速度，开路短路测试的关键指标是快速与准确。

目前在开路短路测试中，会把电路板上的测量点分为多个短路点群组，其中，每一个短路点群组中的任意测量点间为短路，且不同短路点群组中的测量点不可以为短路。为了要满足不同短路点群组中的测量点不为短路的条件，开路短路测试需要对所有两个测量点的组合进行测试，这样，当电路板上的测量点数量非常多时，开路短路测试所进行的测试次数会非常的高，造成开路短路测试的时间的增加。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在开路短路测试中的测试次数过高的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决这一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在开路短路测试中的测试次数过高的问题，本发明遂揭露一种使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法，其中：

本发明所揭露的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统，至少包含：分析模块，用以依据标准板卡上的各实体元件预测短路点群组，短路点群组中包含多个测量位置；学习模块，用以验证标准板卡上，分别与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改短路点群组，及用以测试标准板卡上，不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组；测试模块，用以验证被测板卡上，分别与修改后的短路点群组中的各测量位置对应的测试测量点间是否短路，及用以测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并在取得短路的各该测试测量点后，依据被取得的测试测量点判断是否存在异常短路点。

本发明所揭露的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，其步骤至少包括：依据标准板卡上的实体元件预测短路点群组，短路点群组中包含测量位置；验证标准板卡上，分别与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改短路点群组；测试标准板卡上，不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组；验证被测板卡上，分别与修改后的短路点群组中的测量位置对应的测试测量点间是否短路；测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并取得短路的测试测量点；依据被取得的测试测量点判断是否存在异常短路点。

本发明所揭露的系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明通过以标准板卡的实体元件预测一个短路点群组，并在使用标准板卡验证短路点群组后，使用短路点群组测试被测板卡，由此解决现有技术所存在的问题，并可以达成提高开路短路测试的执行速度的技术效果。

附图说明

图1为本发明所提出的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统架构图。

图2A为本发明所提出的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法流程图。

图2B为本发明所提出的减少验证测量点的测试次数的方法流程图。

图2C为本发明所提出的输出对应提示信息的附加方法流程图。

图2D为本发明所提出的判断短路的测试测量点的详细方法流程图。

主要部件附图标记：

110分析模块

120学习模块

130测试模块

140输出模块

170储存模块

180计算模块

步骤210依据标准板卡上的实体元件预测短路点群组，短路点群组中包含测量位置

步骤220验证标准板卡上，分别与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改短路点群组

步骤230测试标准板卡上，不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组

步骤231将验证测量点分组

步骤233计算各分组间的理论电阻值