[发明专利]进行图像处理的图像处理装置有效

专利信息
申请号: 201210347356.3 申请日: 2012-09-18
公开(公告)号: CN103024302A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 铃木宗士;柏木基志 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H04N5/367 分类号: H04N5/367;H04N5/232
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 樊建中
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 进行 图像 处理 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及图像处理装置、图像处理方法以及记录介质。

背景技术

在数字照相机或具有摄像功能的便携电话等中,通过CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)、CCD(Charge Coupled Device)型摄像元件将从透镜入射的光转换成电信号,并将该电信号作为图像数据进行输出。

上述的摄像元件具有多个像素,该多个像素分别对入射光进行光电转换来蓄积电荷,并基于所蓄积的电荷的量来决定亮度。在这些的多个像素中,当电荷蓄积到与入射光相应的量以上时会产生白色缺陷(white defect)。

专利文献1中公开了下述方法,即:在采用了CCD的摄像元件中,预先确定产生白色缺陷的像素,在摄像之时基于与前后像素对应的像素值(图像信号)来修正与该像素对应的像素值(图像信号)。

专利文献1:日本特开2000-101925号公报

然而,CMOS型的摄像元件相对于在产生了白色缺陷的像素的周围的区域所配置的像素,可能会产生白色缺陷放大的光晕现象(blooming)。

图6A~F是说明光晕现象的图。在图6A~F中,1个正方形的块表示1个像素。各像素的颜色表示电荷的量,越是接近白色的像素则意味着越是蓄积了电荷。

首先,在图6A中,在1个像素(该图的中央的像素)中产生白色缺陷。在产生的当初,蓄积至必要以上的电荷的量少,白色缺陷程度低。但是,若随着温度、湿度等环境变化或时效变化而蓄积至必要以上的电荷的量增加且达到容许值(图6B),则电荷泄漏到相邻的像素中,相邻的像素中的电荷也蓄积到必要以上(图6C)。然后,由此连锁产生电荷从电荷积蓄到必要以上的像素泄漏向相邻的像素,从而白色缺陷会增加(图6D~F)。

为了修正由光晕现象产生的白色缺陷,例如数字照相机等反复进行连续2次的摄像动作。即、数字照相机等在第1次摄像动作中拍摄通常的被摄体,在第2次摄像动作中以遮光的状态进行拍摄。数字照相机等在这样的第2次摄像动作的结果中,将蓄积了电荷的像素确定为产生了白色缺陷的像素。并且,数字照相机等在第1次摄像动作拍摄到的图像数据之中、修正由此确定出的像素的像素值(图像信号)。然而,专利文献1公开的方法中,由于基于前后像素的像素值来修正产生了白色缺陷的像素的像素值,因而修正结果有可能会变得不自然。

另外,为了提高确定产生了白色缺陷的像素的精度,若通过反复进行两次摄像动作等而确定出在摄像时产生了白色缺陷的像素,则存在整个摄像过程会花费时间的顾虑。

因而,期望能高精度且有效地修正图像数据的像素值(图像信号)的图像处理装置以及图像处理方法。

发明内容

本发明的一个方式是进行图像处理的图像处理装置,其特征在于,具备:

摄像部,其具有构成为包括多个像素的摄像元件,并作为图像数据生成所述多个像素的各自的像素值;

位置确定部,其在由所述摄像部生成的图像数据之中确定所述多个像素中的缺陷像素的位置;

区域确定部,其基于由所述位置确定部确定的位置,在所述图像数据之中确定因所述缺陷像素而产生图像噪声的区域;和

修正部,其针对在由所述区域确定部确定的所述图像数据的区域中所包含的多个像素各自的像素值,基于位于该区域的周围的多个像素的像素值的加权平均来进行修正。

另外,本发明的其他方式是具有构成为包括多个像素的摄像元件的摄像处理装置所执行的图像处理方法,所述图像处理方法的特征在于包括:

摄像步骤,作为图像数据生成所述多个像素的各自的像素值;

位置确定步骤,在所述摄像步骤中生成的图像数据之中确定所述多个像素中的缺陷像素的位置;

区域确定步骤,基于在所述位置确定步骤中所确定的位置,在所述图像数据之中确定因所述缺陷像素而产生图像噪声的区域;和

修正步骤,针对在由所述区域确定步骤确定的所述图像数据的区域中所包含的多个像素各自的像素值,基于位于该区域的周围的多个像素的像素值的加权平均来进行修正。

另外,本发明的其他方式是计算机可读取的记录介质,记录了使具有构成为包括多个像素的摄像元件的图像处理装置的计算机执行下述步骤的程序,其特征在于所述步骤包括:

摄像步骤,作为图像数据生成所述多个像素的各自的像素值;

位置确定步骤,在所述摄像步骤中生成的图像数据之中确定所述多个像素中的缺陷像素的位置;

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