[发明专利]带开关的同轴连接器

说明书

技术领域

本发明涉及包括通过嵌合对象连接器而成为分离状态的一对触头的带开关的同轴连接器。

背景技术

一般而言，在如移动电话等那样的电子设备或电气设备中使用带开关的同轴连接器。该带开关的同轴连接器例如被用作用于检查设于设备内的高频电路等各种电子电路的状态、性能的小型电路检查开关等，但是被下述的专利文献1和2等公开的电路检查开关，由以分断设备主体的电子电路的方式安装在电路基板上的带开关的同轴连接器构成，检查用插头连接器的探针（检查针）作为对象连接器，通过设于该带开关的同轴连接器的对象插入孔，从上方侧插入内部。

在这样的带开关的同轴连接器中，在绝缘外壳的外方侧，安装有接地连接用的导电性壳体，通过从该导电性壳体一体地突出的多个基板连接部被软钎焊接合于省略了图示的布线基板上的导电电路而进行安装，从而被使用。在此时的上述绝缘外壳的内部，安装有由信号传送用的可动触头和固定触头构成的触头对，上述一对的可动触头和固定触头分别连接于设于设备主体的电子电路（省略图示）的一侧和另一侧。

并且，相对于该带开关的同轴连接器，从上方侧插入的检查用插头连接器的探针（检查针）的前端部分以推开在大致水平面内摆动的上述可动触头的自由端部分的方式压接，由此，可动触头摆动并从固定触头分离，本来的电子电路被分断。此外，与此同时，可动触头1与探针的下端部分接触，由此，在设备主体的其他的电子电路中，探针成为导通状态，来自电子电路的电信号通过该探针被取出到外部，从而例如执行适宜的检查。

可是，在这样的以往的带开关的同轴连接器中，由于检查用插头连接器的探针（检查针）被反复插入等，触头有可能产生永久变形，使用耐久性存在问题。为了提高使用耐久性，也考虑有通过增长触头的跨度而提高弹性的手段，但是通过仅单纯地增长触头，连接器整体大型化，有悖于近年来的小型化和扁平化的要求。此外，在使用气氛中存在的微小异物、绝缘物等尘埃，通过检查用插头连接器的探针（检查针）的插入孔而进入到内部，也存在有可能产生电连接不良这样的问题。

专利文献1：日本特开平09－245907号公报

专利文献2：日本特开2002－359039号公报

发明内容

因此，本发明的目的在于，提供一种能够以简易的结构避免大型化的同时提高使用耐久性，并且能够良好地防止由进入到内部的尘埃而引起的电连接不良的产生的带开关的同轴连接器。

为了实现上述目的，本发明采用如下的结构，即，是一种带开关的同轴连接器，包括从与绝缘外壳的固定部呈悬臂状伸出并以互相相对的方式配置的一对触头，上述一对触头的端部彼此以接触的方式配置，利用通过设于上述绝缘外壳的插入孔而被插入的对象连接器的按压力，上述一对触头中的一方的触头向按压方向移动，从另一方的触头分离，其中，上述一对触头的双方包括从上述固定部呈悬臂状伸出的具有挠性的弹性梁状构件，上述一对触头中的至少一方的触头的上述弹性梁状构件，具有朝向上述对象连接器的插入方向被折弯的弯曲部，并且，在上述双方的触头上，在上述固定部与上述弹性梁状构件的交界部分，形成有实质上扩大上述弹性梁状构件的跨度长的缺口部，并且，在上述双方的触头与上述绝缘外壳之间，设有确保上述弹性梁状构件的挠性的间隙。

根据由这样的结构构成的带开关的同轴连接器，利用设于至少一方的触头的弯曲部、和设于双方的触头的缺口部，提高触头相对于对象连接器的按压力的弹性，并且利用设于与绝缘外壳之间的间隙，确保双方的触头的挠性，即使在进行了连接器的小型化、扁平化的情况下也防止触头的永久变形。此外，在对象连接器未被嵌合时通过开放的对象插入孔而进入到内部的尘埃即使落下到触头上，尘埃也会沿着触头的弯曲部具有的倾斜面移动，从而不会积蓄到触头上，降低对象连接器与触头的电导通性以及触头彼此的电导通性被尘埃妨碍的可能性。

此外，优选的是，本发明的上述固定部构成为，沿上述一对触头相对的方向延伸，并卡合于上述绝缘外壳。

根据由这样的结构构成的带开关的同轴连接器，由于设于双方的触头的固定部以沿触头相对方向延伸的状态被固定于绝缘外壳，所以提高触头相对于对象连接器的插入方向的支承性，提高电接触部的位置精度，改善触头的振动稳定性，并且防止各触头相对于对象连接器和触头彼此的按压力的位置偏离。

此外，优选的是，本发明的上述缺口部在上述固定部与上述弹性梁状构件的连结部分以呈槽状的方式形成。