[发明专利]成像设备和成像设备的控制方法

说明书

技术领域

本公开涉及成像设备和成像设备的控制方法，更具体地说，涉及测量到被摄对象的距离的成像设备，和所述成像设备的控制方法。

背景技术

在许多情况下，成像设备具有自动调整焦点的功能，所谓的AF(自动聚焦)功能。AF功能中测量距离的方式被分成主动方式和被动方式。按照主动方式，红外线或超声波被照射到被摄对象，根据到照射之后，返回反射波为止的时间和照射角度，测量距离。同时，按照被动方式，进行被摄对象的亮度的测光，以检查相差或对比度，从而测量距离。在利用被动方式的情况下，由于在较暗的场所，难以检测相差或对比度，因此在许多情况下，成像设备具有把称为辅助光的光照射到被摄对象的光源。

这里，在利用电池驱动的成像设备中，为了确保较长的工作时间，一直存在增大的降低成像设备的电力消耗量的需求。在这方面，提出了当辅助光的光源具备多个发光元件时，按照摄影视角或摄影距离，改变要开启的发光体的数目，从而抑制电力消耗量的成像设备(例如，参见JP2006-126611A)。具体地，控制成像设备，以致当摄影视角变小时，待开启的发光体的数目被减小。此外，控制成像设备，以致当摄影距离较短时，待开启的发光体的数目被减小。

发明内容

但是，在上述现有技术中，进行测距的效率低。即，在被动方式下，只有画面内的一部分被摄对象会被测距。然而，即使在这种情况下，上述成像设备也不会改变待开启的发光体的数目，除非摄影视角或摄影距离变化。结果，由于辅助光被照射到未被测距的被摄对象上，因此不必要地浪费了电力，导致测距效率的降低。

鉴于上面所述，理想的是提高成像设备中的测距效率。

为了解决上述问题，做出了本发明。按照本技术的第一实施例，提供一种成像设备和所述成像设备的控制方法，包括测距区选择单元，所述测距区选择单元被配置成从在与摄影镜头的视角相应的区域中预先设定的多个候选区中，选择用于测量到被摄对象的距离的区域，所述区域被选为测距区，照射单元，所述照射单元被配置成把辅助光照射到被摄对象上，到被摄对象的距离是在测距区中测量的，和测距单元，所述测距单元被配置成在测距区中，测量到被照射辅助光的被摄对象的距离。这样，能够获得辅助光被照射到被摄对象上，在选择的测距区中测量到所述被摄对象的距离的效果。

此外，在第一实施例中，成像设备还包括辅助光镜头视角控制单元，所述辅助光镜头视角控制单元被配置成控制用于照射辅助光的辅助光镜头的视角，从而使辅助光镜头的视角与摄影镜头的视角一致。这样，能够获得辅助光镜头的视角与摄影镜头的视角一致的效果。

此外，在第一实施例中，辅助光镜头视角控制单元可调整辅助光镜头的焦距，以致其中产生辅助光的区域的大小与摄影像素的区域的大小之比等于辅助光镜头的焦距与摄影镜头的焦距之比，从而使辅助光镜头的视角与摄影镜头的视角一致。这样，能够获得调整辅助光镜头的焦距，以致其中产生辅助光的区域的大小与摄影像素的区域的大小之比等于辅助光镜头的焦距与摄影镜头的焦距之比的效果。

此外，在第一实施例中，照射单元可包括发光部分，所述发光部分被配置成通过与多个候选区关联的多个发光体的发光，产生辅助光，和发光控制部分，所述发光控制部分被配置成使多个发光体之中，与选择的候选区对应的发光体发光。这样，能够获得多个发光体之中，与选择的候选区对应的发光体发光的效果。

此外，在第一实施例中，照射单元可折射来自辅助光镜头的镜筒中的发光部分的辅助光，把折射光照射到被摄对象上。这样，能够获得折射从而照射辅助光镜头的镜筒中的辅助光的效果。

此外，在第一实施例中，成像设备还包括聚焦控制单元，所述聚焦控制单元被配置成把焦距调整到测量的距离。这样，能够获得焦点被调整到被摄对象的效果。

此外，在第一实施例中，成像设备还包括物体检测单元，所述物体检测单元被配置成检测与摄影镜头的视角相应的区域中的预定物体。测距区选择单元可从多个候选区中，选择在其中检测出所述物体的区域中设定的候选区，作为测距区。这样，能够获得在其中检测出物体的区域中设定的候选区被选为测距区的效果。

按照本公开，能够获得在成像设备中，测距效率被提高的优良效果。

附图说明

图1是图解说明第一实施例中的成像设备的结构例子的方框图；

图2是图解说明第一实施例中的控制装置的功能结构例子的示图；

图3是第一实施例中的成像设备的正视图的例子；

图4是当从上方看时，第一实施例中的成像设备的内部机构例子的示图；

图5是描述第一实施例中的摄影倍率的示图；