[发明专利]基于散点的系统测试方法无效
申请号: | 201210309226.0 | 申请日: | 2012-08-28 |
公开(公告)号: | CN102831061A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 陈利利;徐锦韬;杨锐 | 申请(专利权)人: | 盛科网络(苏州)有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 苏州慧通知识产权代理事务所(普通合伙) 32239 | 代理人: | 安纪平 |
地址: | 215021 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 系统 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及系统测试领域,尤其涉及一种基于散点的系统测试方法。
背景技术
随着测试技术的不断发展,测试方法也越来越多样化,通常情况下,复杂的测试会比简单的测试找到更多的bug,但是大部分的自动化测试都是简单测试。我们设计测试用例一般都是按照一定的逻辑顺序,经过深思熟虑的,但是这样的测试仍然是简单的测试。
以QoS(Quality of Service,服务质量)为例,将整个数据测试流程分为ACL(Access Control List,访问控制列表)分类单元、限速单元、加入队列单元、调度单元及流量整形单元,在每个单元内存在多个测试功能点,且这些功能点间存在一种固定排列的测试顺序,在实际设备检测时,测试系统先按照ACL分类单元、限速单元、加入队列单元、调度单元及流量整形(Shaping)单元的顺序进行大类检测,在进入到各单元内根据功能点的排列顺序进行测试。
如图1所示是现有的常规测试的某个业务树形结构图,其测试步骤包括:
首先,将整个流程划分为多个单元A、B、C、D,其中每一单元的配置以一棵生成树来表示。以QOS为例,首先会在数据流的入口处用ACL进行分类,其次再进行限速,加入队列,最后再使用调度,流量整形等操作,这五大块联合在一起才构成了整个QOS的流程。
第二,在每一单元里均有各功能相应的配置,并按照要求以从前到后的顺序配置于测试设备上。
第三,按照常规的业务流程,以前后顺序进行测试。以QOS为例,在入口处发送数据流,并在出口处检测测试结果是否符合配置要求。
第四,修改每一单元的配置参数,观察测试结果是否与预期一致。
第五,删除部分配置,观察测试结果是否与预期一致。
这种测试在功能点测试时比较实用,然而业务流程是随机组合的,一切有可能出现的操作,都是一个测试的流程。测试中的大部分是正常的业务流程,即使异常测试也不可能把所有的流程都测到。因此,需要使用复杂序列的测试,使得其尽可能将软硬件中所有可能出现的操作都呈现出来,并尽可能多的找出软硬件系统中的错误。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种基于散点的系统测试方法,其通过将常规的测试顺序按照功能节点进行拆分,形成散点,再通过排列组合(permutation and combination)的方式罗列出所有散点的排列顺序,再按照排列顺序进行测试,以更加全面覆盖所有测试点,并优化测试程序,保证产品质量。
为实现上述目的,本发明提出如下技术方案:一种基于散点的系统测试方法,包括:
在进行系统测试时,将系统的整个待测试的业务流程划分成至少一个单元,每个单元包括至少一个功能节点;
将每一单元内的功能节点拆分成测试散点;
将每一单元的所有测试散点进行排列组合后进行测试。
更优地,所述方法包括对不同单元内的散点进行排列组合后进行的测试。
包括对各单元进行排列组合后进行的测试。
所述每一功能节点上设有配置参数,所述测试还包括修改或删除所述功能节点上的配置参数后的测试。
所述散点按随机组合好的顺序配置于测试设备上。
与现有技术相比,本发明基于散点的测试方法能够更加深入的覆盖更全的测试点,更好的保证产品质量,提高系统的健壮性和稳定性,实验证明,这种方法是简单实用并且有效的。
附图说明
图1是现有的业务流程测试的模块图;
图2是本发明散点测试的模块图。
具体实施方式
下面将结合本发明的附图,对本发明优选实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。
一般在软硬件系统的测试中,当用常规检测手段找到所有bug(错误)后,还需要通过特殊的测试方法将一些隐藏的bug给找出来,以更进一步地提高产品的质量,本发明提出的基于散点的系统测试方法,是通过将系统测试中的整个业务流程中的功能节点拆分成散点进行随机排列组合后进行的测试。
在进行本发明基于散点的系统测试时,如图2所示,首先将待测试系统的整个业务流程划分为多个单元A、B、C、D,每一单元中包括至少一个功能节点,如图2中的单元A中包括a1至a6六个功能节点,单元B中包括b7至b9三个功能节点。
然后将每一单元中的功能节点拆分成测试散点,如将图2中单元A中a1至a6六个功能节点拆分成a1至a6六个测试散点,将单元B中的功能节点b7至b9拆分成b7至b9三个测试散点。
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