[发明专利]一种用于晶片电阻检测的定位装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种产品定位装置，特别是涉及一种用于晶片电阻检测的定位装置。

背景技术

目前的晶片电阻检测采用人工用显微镜通过肉眼来检测产品的外观及缺陷，人工检测有诸多的缺点：如人的肉眼会疲劳导致品质不稳定、生产效率低下、被检外观精度不够，产品浪费较多，如一颗不良产品，会连同当颗的一整列都放弃不要，产品外观及缺陷检测在整个制程中非常关健，外观缺陷检测没法保障，会直接影响成品产品的品质与功能。而目前晶片电阻检测装置在定位机构上存在以下缺点：1、定位结构十分复杂，工艺繁琐，造价成本高。2、无法判别放置晶片电阻是否为良好品。3、定位机构的透光性能较差，不利于CCD的定位和检测。

发明内容

为了解决现有技术中晶片电阻定位机构结构复杂，工艺繁琐，造价成本高，透光性较差，无法判别放置晶片电阻是否为良好品的问题，本发明提供了一种定位方式简单，使用方便，造价便宜，透光性较好的用于晶片电阻检测的定位装置。

为了解决上述问题，本发明所采取的技术方案是：

一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于：在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。

前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：所述两个定位开口对称设置。

前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：在放置开口的上下两侧分别贯通连接有一个定位爪竖向避让口，在放置开口的左右两侧分别贯通连接有两个定位爪横向避让口。

前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：所述两个定位爪横向避让口分别位于定位开口的上下两侧。

前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：所述定位爪竖向避让口对称设置，所述定位爪横向避让口两两对称设置。

前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：在上方或下方的定位爪竖向避让口的两侧分别设置有一个光源透孔。

本发明的有益效果是：

1、本发明通过对射光电感应器安装支架将整个产品托板进行定位，定位方便快捷，同时通过设置有定位爪避让口，可使定位爪快速到位对晶片电阻进行微调，使用起来十分方便。

2、本发明在射光电感应器安装支架上方设置有对射光电感应器，可有效且及时的判别当前晶片电阻的良好状况。

3、在定位开口上连接有四个光源透孔，可将背光源的光线穿透上来，使透孔上方位置更亮，CCD再以此处做基准定位，达到了定位更准确的目的。

附图说明

图1是本发明晶片电阻检测的定位装置的立体结构示意图。

图2是本发明晶片电阻检测的定位装置的平面结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步的描述。

如图1-2所示，一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器安装支架1、对射光电感应器2和产品托板3，在产品托板3上开设有用于放置产品的放置开口4，在放置开口4的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口5，两个定位开口5对称设置，对射光电感应器安装支架1伸入到定位开口5内，对射光电感应器2安装在对射光电感应器安装支架1上。

在放置开口2的上下两侧分别贯通连接有一个定位爪竖向避让口6，在放置开口2的左右两侧分别贯通连接有两个定位爪横向避让口7，且两个定位爪横向避让口7分别位于定位开口5的上下两侧。定位爪竖向避让口6对称设置，定位爪横向避让口7两两对称设置。在上方或下方的定位爪竖向避让口6的两侧分别设置有一个光源透孔8。

综上所述，本发明通过对射光电感应器安装支架1将整个产品托板3进行定位，定位方便快捷，同时通过设置有定位爪避让口，可使定位爪快速到位对晶片电阻进行微调，使用起来十分方便。同时本发明通过对射光电感应器安装支架1上方设置有对射光电感应器2，可有效且及时的判别当前晶片电阻的良好状况。另外本发明在定位开口5上连接有四个光源透孔8，可将背光源的光线穿透上来，使透孔上方位置更亮，CCD再以此处做基准定位，达到了定位更准确的目的。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。