[发明专利]光学分析装置和光学分析方法无效
申请号: | 201210276101.2 | 申请日: | 2012-08-03 |
公开(公告)号: | CN102914521A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 梶原淳志;甲斐慎一;市村功;瀬川雄司 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N21/64;G01N21/01;G01N21/03 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张贵东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 分析 装置 方法 | ||
1.一种光学分析装置,包括
光源;
导光板,被配置为将入射光从光源导向每个反应区;
光屏蔽结构,被配置为限制从反应区的内部发射的光束的发射方向;以及
检测系统,被配置为检测通过光的照射从反应区的内部发射的光束。
2.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源是激光光源。
3.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源是发光二极管光源。
4.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源包括激光光源和发光二极管光源。
5.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源照射具有不同波长的光线,使得能够时分地检测从反应区的内部发射的光束。
6.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光屏蔽结构被放置以接触到衬底的表面,在该衬底中形成由所述光学分析装置使用的所述反应区。
7.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光屏蔽结构具有被配置为限制光束的发射方向的多个孔。
8.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光学分析装置起到核酸扩增反应装置的作用。
9.一种光学分析方法,包括:
通过使用导光板,将从光源照射的光导向每个反应区;
经由被配置为限制光束的发射方向的光屏蔽结构,将从反应区的内部发射的光束引向检测系统;以及
通过使用检测系统检测所述光束。
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