[发明专利]光学分析装置和光学分析方法无效

专利信息
申请号: 201210276101.2 申请日: 2012-08-03
公开(公告)号: CN102914521A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 梶原淳志;甲斐慎一;市村功;瀬川雄司 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63;G01N21/64;G01N21/01;G01N21/03
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张贵东
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 分析 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光学分析装置,包括

光源;

导光板,被配置为将入射光从光源导向每个反应区;

光屏蔽结构,被配置为限制从反应区的内部发射的光束的发射方向;以及

检测系统,被配置为检测通过光的照射从反应区的内部发射的光束。

2.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源是激光光源。

3.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源是发光二极管光源。

4.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源包括激光光源和发光二极管光源。

5.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光源照射具有不同波长的光线,使得能够时分地检测从反应区的内部发射的光束。

6.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光屏蔽结构被放置以接触到衬底的表面,在该衬底中形成由所述光学分析装置使用的所述反应区。

7.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光屏蔽结构具有被配置为限制光束的发射方向的多个孔。

8.根据权利要求1所述的光学分析装置,其中所述光学分析装置起到核酸扩增反应装置的作用。

9.一种光学分析方法,包括:

通过使用导光板,将从光源照射的光导向每个反应区;

经由被配置为限制光束的发射方向的光屏蔽结构,将从反应区的内部发射的光束引向检测系统;以及

通过使用检测系统检测所述光束。

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