[发明专利]SMC1密封面平面度检验工装

说明书

技术领域

本发明涉及一种平面度检验工装，尤其涉及一种SMC1密封面平面度检验工装。

背景技术

SMC1高压负荷开关为SF6充气柜，而SF6气体主要充放在气包中，故气包内SF6气体的泄漏量直接影响着开关的性能和使用寿命，造成设备的绝缘水平下降，引起环境污染，危害身体健康。因此，在出厂前要对每件气包中SF6气体年漏气率检验。经检验发现，同批次生产出的气包多数未能达到年漏气率低于5％的要求。

针对该问题，申请人经多方研究得出气包壳体上安装密封槽的平面度不达到精度要求是导致SF6泄漏率过高的主要原因。

目前，还没有一种专门的能够检测气包壳体密封槽平面度的检具。

现有技术中的一种检测技术是利用塞规进行测量，将负荷开关的气包装配完后（其中主要是气包壳体上安装密封圈和透明罩），用塞规对透明罩与气包壳体的缝隙进行检测，并规定了一个合格产品应满足的数据范围值，当检测的数值在允许的范围内视为合格产品，超出范围视为不合格产品。

这种检测技术的缺点是：

该测量技术在长期的使用期间出现了一种现象，根据设计要求获得的检测数据范围不能很好的用来作为塞规检测的依据。用塞规检测合格的产品，仍然会出现漏气率过高。这使得检测人员不得不一次次的提高他们认为的合格产品应满足的精度等级。这样一来给气包的生产厂家的加工带来了很大的困难，生产成本自然也就不断的增加，也给公司带来了不小的经济损失。即便是这样，仍然还是有部分气包出现年漏气率过高的现象；

现有技术中的另一种检测技术是采用目前先进的检测仪器，目前较为先进的对平面度检测仪器有三坐标测量机和专业平面度检测仪等。该类仪器设备利用智能光电技术实现对被测面的平面度测量，具有测量精度等级高、通用性好，能够适用于各种复杂平面的平面度、粗糙度的检测。

这种检测技术的缺点是：

利用先进的平面度检测仪器进行检测，确实能够很好的检测产品的平面度，检测的精度远远超过普通检测量具的精度等级。但是作为单纯检测一个零部件就需要花费几十万购买一台检测仪，且仅仅运用了其中很小一部分的功能，公司没有那么高的预算资金。另外，该类技术产品安装调试难度大、对操作人员的技术要求高和维护费用高等，很不适合用于气包密封槽的平面度测量。

发明内容

本发明的目的是提供一种性价比高、实用、操作简单和维护费用低的SMC1密封面平面度检验工装。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的SMC1密封面平面度检验工装，包括基准板、定位块和测量表；

所述基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，所述基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；

所述基准板上设有扇形槽，所述三个凸台放入SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽中，所述扇形槽与密封槽的位置一致；

所述定位块套在百分表的套管上，并用顶丝夹紧，所述百分表的测头穿过所述扇形槽伸入到所述密封槽中，所述定位块的下表面与所述基准面配合。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明提供的SMC1密封面平面度检验工装，包括基准板、定位块和测量表；基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；基准板上设有扇形槽，三个凸台放入SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽中，扇形槽与密封槽的位置一致；定位块套在百分表的套管上，并用顶丝夹紧，百分表的测头穿过所述扇形槽伸入到密封槽中，定位块的下表面与基准面配合。能很方便的对SMC1高压负荷开关的气包壳体的密封槽的平面度进行测量，性价比高、实用、操作简单和维护费用低。

附图说明

图1为本发明实施例中SMC1高压负荷开关的气包的密封的结构示意图；

图2a为本发明实施例中基准板的平面结构示意图；

图2b为本发明实施例中基准板的侧面结构示意图；

图3为本发明实施例中定位块和测量表的结构示意图。

图中：1、透明罩，2、密封圈，3、密封槽，4、基准板，5、扇形槽，6、圆孔，7、凸台，8、测量表，9、顶丝，10、定位块。

具体实施方式

下面将对本发明实施例作进一步地详细描述。

本发明SMC1密封面平面度检验工装，其较佳的具体实施方式是：

包括基准板、定位块和测量表；

所述基准板的底面上设有三个凸台，其上表面为基准面，所述基准面与三个凸台的下端面所形成的表面平行；