[发明专利]一种基于材料分辨能力的射线安检系统性能评价方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种基于材料分辨能力的射线安检系统性能评价方法,属于辐射成像安全检查技术领域。 

背景技术

目前，X射线检测方法广泛应用于工业无损检测及安全检查等,针对X射线成像设备的性能评价存在如下方法：在工业无损检测领域，GJB1187A-2001《射线检测》针对X射线胶片透视成像检测，采用像质计灵敏度的方法评价设备的成像能力；GJB5311-2004《工业CT系统性能测试方法》针对工业CT成像检测，采用圆盘标准试件测试系统的空间分辨率和密度分辨率，并以这两个指标来评价系统成像能力；GJB5312-2004《工业射线层析成像检测》针对工业CT成像检测，采用线对测试卡和密度差试件测试系统的空间分辨率和密度分辨率，并以这两个指标来评价系统成像能力。在安全检查领域，GB15208.1-2005《微剂量X射线安全检查设备》针对安检设备使用需求提出了更详细的系统探测性能指标:线分辨率、穿透分辨率、穿透力、空间分辨率、灰度分辨能力、有机物分辨能力、无机物分辨能力、混合物分辨能力、三种材料的分辨能力、有效材料分辨能力、通过率等，但其测试方法是将一个标准测试箱放到安检设备中进行成像，通过人工分辨图像的质量来评价系统的检测性能。此外还有为消除人工评价图像的主观性误差的基于图像处理技术的图像质量自动评价方法以及美国的X射线安检CT系统图像质量评估标准ANSI N42.45-2011,其测试方法是将一个标准测试箱放入安检CT机进行扫描并重建，通过重建切片计算测试体的相关属性来评价系统成像性能。可测试的相关属性包括：物体长度、射束硬化效应、轴向空间分辨率和密度分辨率、径向空间分辨率、金属伪影效应等。以上所有方法都是通过对标准测试件的成像来评价系统的性能。安检设备的根本功能是实现对危险品的探测，安检设备的根本指标是探测率和误报率，探测率误报率指标受两方面影响:一是设备的成像性能，二是设备的危险品识别算法。前述方法都是对设备成像性能的测试，和危险品识别算法无关,也不能预测设备的探测率和误报率。另外，由于目前X射线检测设备种类很多，包括单视角透视成像设备、多视角成像设备、计算机断层成像设备等。针对这些检测设备的性能评价，还没有一个完善的统一测试标准。目前，做探测率和误报率测试已成为设备性能的衡量指标，而目前的各种射线检测标准都是针对设备图像质量的评价，不能完整的反映安检设备的探测率和误报率指标。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够克服上述技术问题的基于材料分辨能力的射线安检系统性能评价方法。 

本发明的步骤是：给出两个不同材质的物体a、物体b,射线源发出的射线束穿过所述物体a、物体b，被探测器接收，探测器上的信号经过AD转换后输入计算机,计算机基于设定算法提取所述物体a、物体b的特征属性值，计算设备对所述物体a、物体b的材料分辨能力，以此评价安检设备性能；具体包括以下步骤: 

a.选择两种不同材料的物体a、物体b； 

b.设定各种不同的检测环境，分别将物体a、物体b放入安检设备中进行检测； 

c.安检设备输出物体a、物体b的特征属性值； 

d.统计物体a、物体b的特征属性值及标准差； 

e.基于物体a、物体b的特征属性值和标准差，计算安检设备对物体a、物体b的分辨能力； 

f.在不同的安检设备上，实施以上步骤，计算物体a、物体b在不同安检设备上的材料分辨能力，以此评价比较不同安检设备的性能。 

所述安检设备的射线源是X射线源或γ射线源之一。所述安检设备采用双能成像或多能成像。所述安检设备采用基于单视角成像方法、基于多视角成像方法、基于CT成像方法之一。所述物体a、物体b是液体或固体之一。 

针对液态危险品检测，本发明能够通过使用不同的容器模拟不同的检测环境；针对普通行包安检设备，能够通过使用不同设置的测试箱模拟不同的检测环境。 

所述物体a、物体b的特征属性值是一维或多维之一。所述物体a、物体b的特征属性值的标准差能够通过实验统计获得或直接指定。 

本发明的优点是：不论是安检设备生产厂商，还是设备鉴定认证机构都可以执行，实施过程透明可重复，本发明的方法比传统的测试探测率和误报率的方法简单方便，并综合体现了设备的成像性能和危险品识别算法，且能够预测设备的探测率和误报率。 

附图说明

图1是本发明所述一种基于材料分辨能力的射线安检系统性能评价方法的材料分辨能力计算流程图；