[发明专利]光器件的故障检测方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及光学通信领域，尤其涉及一种光器件的故障检测方法及系统。

背景技术

光器件主要用来对光电信号进行相应的转换，并对转换后的光信号的传输进行调节改变，从而使光信号的传输按事先设定要求进行以期达到预期目的。参考图1，现有技术的光器件包括具有发光源102的壳体100，在壳体100内封装有透镜103、陶瓷插芯104；壳体100与外部电源电连接，壳体100主要是对光或电信号进行转换与收发，即，接通电源后，使发光源102发光；透镜103的主要作用是将发光源102发出的光进行汇聚，以便于对光信号的传输进行调节改变；陶瓷插芯104主要作用是将穿过光器件的光信号耦合到与光器件连接的光纤内部，从而使光信号与外界进行低损耗传接，或者将外部的光与光接收端的光电二极管之间进行低损耗传输。

众所周知地，光器件投入使用之前，需对所述光器件进行检测确定其是否合格，从而使投入市场的各光器件均可正常使用，而当有部分光器件在检测过程中发现不合格不能正常使用时，生产厂商需对该不合格光器件进行检测以确定不合格光器件的故障原因所在。在现有技术中，并没有专门针对该不合格光器件故障检测的系统，在对不合格光器件的检测时，工作人员一般是直接将其壳体100掰开或拆开，以检测不合格光器件存在的故障原因。但是这种检测方法不仅在掰开或拆开过程中容易损坏壳体100内的其它器件，而且对不合格光器件故障的检测结果的准确性将受工作人员的工作熟练程度及认知能力等主观因素的影响而难以确保。因此有必要提供一种改进的光器件的故障检测方法及系统，以克服上述缺陷。

发明内容

本发明的目的是提供一种光器件的故障检测方法及系统，该检测方法及系统可对不合格的光器件的故障进行精确检测，而且在检测过程中不会损坏所述光器件，延长了光器件的使用寿命。

为实现上述目的，本发明提供一种光器件的故障检测方法，所述光器件包括具有发光源的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯，其中，所述检测方法包括如下步骤：（1）在光器件和光功率器之间连接单模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过单模光纤后的光功率值，并记录为第一光功率值；（2）在光器件和光功率器之间连接多模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过多模光纤后的光功率值，并记录为第二光功率值；（3）通过对比第一光功率值与所述第二光功率值的大小关系，判定所述光器件的故障原因。

较佳地，当所述第二光功率值与第一功率值的比值大于或等于120%时，则判定所述光器件的故障原因为光学对准的改变；当所述第二光功率值与第一功率值的比值为100%-120%时，则判定所述光器件的故障原因为光器件内部存在有遮挡杂物。

较佳地，所述步骤（1）具体包括：将单模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述单模光纤另一端连接于光功率器，接通发光源，所述光功率器测试光通过单模光纤后的光功率值，并将通过所述单模光纤的光功率值记录为第一光功率值。

较佳地，所述步骤（1）具体为：所述光功率器多次测试通过所述单模光纤后的光功率值，将通过所述单模光纤的多个光功率值取平均值，并将所述平均值记录为第一光功率值。

较佳地，所述步骤（2）具体包括：将多模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述多模光纤另一端连接于光功率器，所述光功率器测试光通过多模光纤后的光功率值，并将通过所述多模光纤的光功率值记录为第二光功率值。

较佳地，所述步骤（2）具体为：所述光功率器多次测试通过所述多模光纤后的光功率值，将通过所述多模光纤的多个光功率值取平均值，并将所述平均值记录为第二光功率值。

较佳地，在所述步骤（1）之前还包括步骤：根据所述光器件的特性设置所述光功率器的测试光波长。

相应地，本发明还提供了一种光器件的故障检测系统，所述光器件包括具有发光源的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯，其中，所述检测系统包括电源、光功率器、单模光纤、多模光纤及评估板，所述电源分别与所述评估板及光功率器电连接，所述光器件安装于所述评估板上，且所述评估板与所述光器件的发光源电连接，以使所述发光源通电发光，所述光器件具有陶瓷插芯的一端通过单模光纤或多模光纤与所述光功率器连接。

较佳地，所述光器件的故障检测系统还包括分析设备，所述分析设备与所述光功率器电连接，所述光功率器将测试获得的所述第二光功率值与所述第一光功率值输入所述分析设备，且所述分析设备将所述第二光功率值与所述第一光功率值对比，并根据所述对比结果判定所述光器件的故障原因。