[发明专利]铸锭单晶硅的方法无效
申请号: | 201210258876.7 | 申请日: | 2012-07-24 |
公开(公告)号: | CN102747417A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 武鹏;游达;胡亚兰;郑玉芹 | 申请(专利权)人: | 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 |
主分类号: | C30B11/14 | 分类号: | C30B11/14;C30B29/06 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 221004 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 铸锭 单晶硅 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能光伏材料制备领域,具体涉及一种铸锭单晶硅的方法。
背景技术
太阳能光伏发电作为一种最具潜力的可再生能源利用方式,成为取代传统的石化能源、支持人类可持续发展的主要技术,在最近五年来获得了飞速的发展。目前晶体硅太阳能电池占据着光伏产业的主导地位。而硅片的成本占到了电池片成本的一半以上,因此降低硅片成本,提高硅片质量,对于光伏行业的发展有着极其重要的意义。
铸锭单晶硅,是一种通过铸锭的方式形成单晶硅的技术。铸锭单晶硅的功耗之比普通多晶硅多5%,生产的单晶硅的质量接近直拉单晶硅。在不明显增加硅片成本的前提下,使电池效率提高1%以上。但是,由于铸锭单晶是用多块一定尺寸单晶籽晶拼合在一起铸造而成,所以,籽晶缝处会产生大量缺陷,这些缺陷会随着长晶的进行不断扩散。这些缺陷限制了电池的光电转化效率和使用寿命。所以,减少缺陷的产生,限制缺陷的增殖,提高硅片的质量和降低成本成为铸锭单晶现阶段最紧迫的任务。
发明内容
基于此,有必要提供一种铸锭单晶硅的方法,能减少铸锭单晶内部缺陷密度,限制缺陷的增殖,提高制成的电池片的转换效率。
一种铸锭单晶硅的方法,包括在容器底部紧密排列地铺设籽晶及在籽晶上面添加硅料的步骤,其中,铺设的籽晶中,相邻籽晶相互接触的侧面晶向不同,籽晶相互接触的侧面晶向形成5~45度的夹角。
优选地,所述籽晶垂直方向晶向一致。
优选地,所述籽晶垂直方向的晶向为<100>。
优选地,至少使用两种具有不同侧面晶向的籽晶,它们在垂直方向的晶向一致。
优选地,所述籽晶交错排列。
上述铸锭单晶硅的方法中,其中在容器底部铺设籽晶时,相邻籽晶相互接触的侧面晶向不同,籽晶相互接触的侧面晶向形成5~45度的夹角,在晶体生长过程中沿此形成一定的晶界,通过该晶界可以释放由于籽晶接缝处引入的应力,减少缺陷的产生,同时晶界可以抑制位错扩散,减少位错的滑移距离,降低缺陷密度,提高转换效率。
附图说明
图1为各实施例中籽晶摆放示意图;
图2为传统方棒的PL图;
图3为实施例1的方棒的PL图;
图4为传统硅片的PL图;
图5为实施例1的硅片的PL图;
图6为实施例2的方棒的PL图;
图7为实施例2的硅片的PL图。
具体实施方式
以下实施例的铸锭单晶硅的方法采用在硅料下方铺设籽晶的方式,其构思是,在容器(坩埚)底部铺设籽晶时,相邻籽晶相互接触的侧面晶向不同,籽晶相互接触的侧面晶向形成5~45度的夹角,在晶体生长过程中沿此形成一定的晶界,通过该晶界可以释放由于籽晶接缝处引入的应力,减少缺陷的产生,同时晶界可以抑制位错扩散,减少位错的滑移距离,降低缺陷密度,提高转换效率。
下面结合具体实施例说明上述构思是如何实现的。
实施例1
如图1所示,选取两种具有不同侧面晶向且垂直方向晶向为<100>的156×156籽晶,其中⑤号籽晶13块,⑥号籽晶12块。在坩埚底部将这两种籽晶交替摆放,两种籽晶相互接触的侧面晶向形成的夹角为5°。然后在坩埚中装入正常硅料。经过铸锭开方后,对硅锭小方棒和硅片进行光致荧光(Photoluminescence,PL)测试,结果如图2至图5所示。其中图2为传统小方棒(一种籽晶)的PL图片,图3为实施例1的小方棒的PL图片,从图3中可以明显看到晶界,且可以发现隐晶缺陷明显少于图2中的传统小方棒。图4为传统籽晶铸造单晶硅片的PL照片,从图中可以看出籽晶缝隙处会产生大量隐晶;图5显示了实施例1的铸造单晶硅片的PL照片,从图中可以看出铸造单晶硅片在晶界处无隐晶产生,且隐晶未能穿过晶界,这说明晶界可以减少隐晶的产生,并限制隐晶的增殖。将硅片制成电池片后,测试效率发现实施例1的硅片制成的电池片的转换效率较正常铸造单晶硅提高了0.5个百分点。
实施例2
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