[发明专利]修改计时器的装置、设备、系统和方法有效
申请号: | 201210228519.6 | 申请日: | 2007-05-01 |
公开(公告)号: | CN103049037A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | M.迪克松;R.格雷纳;B.查芬 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06F1/06 | 分类号: | G06F1/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 汤春龙;朱海煜 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 修改 计时器 装置 设备 系统 方法 | ||
1.一种设备,包括:
第一计时器存储区,用于存储计时器值的高比特位;
第二计时器存储区,用于存储所述计时器值的低比特位;
使所述设备执行如下操作的逻辑:
将所述计时器值从所述第一和第二计时器存储区加载入一个或多个寄存器;
将新计时器值从一个或多个寄存器复制到所述第一和第二计时器存储区;及
响应于检测与所述计时器值的所述低比特位相关的上溢条件而增加所述计时器值的所述高比特位。
2.如权利要求1所述的处理器,其中所述上溢条件包括生成比特值,所述比特值超出所述第二计时器存储区的大小。
3.如权利要求1所述的处理器,其中所述第一存储区和所述第二存储区是分离的寄存器。
4.如权利要求1所述的处理器,其中所述设备通过检测自加载后所述低比特位已经增加而检测所述上溢条件。
5.如权利要求4所述的处理器,其中检测低所述比特位的增加包括检测与所述低比特位相关的进位值。
6.如权利要求1所述的处理器,其中所述高比特位的增加包括将所述高比特位增加1。
7.如权利要求1所述的处理器,其中还包括第二逻辑,用于减小所述第一计时器存储区中的高比特位,以反映所述第二计时器存储区中的下溢条件,如果这种条件存在的话。
8.如权利要求7所述的处理器,其中减小高比特位包括将所述高比特位减小1。
9.一种设备,包括:
第一计时器存储部件,用于存储计时器值的高比特位;
第二计时器存储部件,用于存储所述计时器值的低比特位;
加载部件,用于将所述计时器值从所述第一和第二计时器存储部件加载入一个或多个寄存器;
复制部件,用于将新计时器值从一个或多个寄存器复制到所述第一和第二计时器存储部件;及
增加部件,用于响应于检测与所述计时器值的所述低比特位相关的上溢条件而增加所述计时器值的所述高比特位。
10.如权利要求9所述的设备,其中所述上溢条件包括生成比特值,所述比特值超出所述第二计时器存储部件的大小。
11.如权利要求9所述的设备,其中所述第一存储部件和所述第二存储部件是分离的寄存器。
12.如权利要求9所述的设备,其中所述设备通过检测自加载后所述低比特位已经增加而检测所述上溢条件。
13.如权利要求12所述的设备,其中检测所述低比特位的增加包括检测与所述低比特位相关的进位值。
14.如权利要求9所述的设备,其中所述高比特位的增加包括将所述高比特位增加1。
15.如权利要求9所述的设备,其中还包括减小部件,用于减小所述第一计时器存储部件中的高比特位,以反映所述第二计时器存储部件中的下溢条件,如果这种条件存在的话。
16.如权利要求15所述的设备,其中减小所述高比特位包括将所述高比特位减小1。
17.一种方法,包括:
将计时器值从第一计时器存储区和第二计时器存储区加载入一个或多个寄存器,所述第一计时器存储区包括所述计时器值的高比特位,且所述第二计时器存储区包括所述计时器值的低比特位;
将新计时器值从一个或多个寄存器复制到所述第一和第二计时器存储区;及
响应于检测与所述计时器值的所述低比特位相关的上溢条件而增加所述计时器值的所述高比特位。
18.如权利要求17所述的方法,其中还包括通过检测自加载后所述低比特位已经增加而检测所述上溢条件。
19.如权利要求17所述的方法,其中增加所述低比特位包括检测与所述低比特位相关的进位值。
20.如权利要求17所述的方法,其中增加所述高比特位包括将所述高比特位增加1。
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