[发明专利]一种用于集成电路测试系统校准装置中矩阵开关通道映射的方法

说明书

技术领域

 本发明涉及微电子测试与计量技术领域，具体地说是一种用于集成电路测试系统校准装置中矩阵开关通道映射的方法。

背景技术

无论集成电路测试系统属于数字、模拟或混合型，均包含若干测试通道。传统的校准方式无法完成对全通道的自动校准，仅能用纯手动的方式进行校准，由于手动校准的诸多缺陷，在实际校准工作中，并不能有效完成对测试系统全通道的校准。目前新建的集成电路测试系统校准装置，已可实现对测试系统全通道的自动校准。集成电路测试系统校准装置的硬件设备一般都包含矩阵开关，以实现对多通道校准时的自动切换。

然而，校准装置对矩阵开关的使用存在如下问题时：（1）对不同集成电路测试系统进行适配时，被校准资源的通道定义不一致；（2）某些矩阵开关通道由于损坏等原因需要跳过；（3）更换了新型号的矩阵开关，接线方式与原矩阵开关不一致。出现上述任一种情况，都需要利用矩阵开关驱动程序对其切换规则进行更改。

由于集成电路测试系统型号多、被校准资源类型多，矩阵开关又属于易损耗设备，造成矩阵开关切换规则需要频繁更改。而集成电路测试系统通道数量多（数字通道可达512个），矩阵开关需要使用的通道数量较多（一般为4×40规模以上），又造成每次矩阵开关切换规则更改的工作量都很大。此外，不同测试系统甚至同一测试系统的不同资源，其通道的定义并无规律，切换规则的更改必须依赖人工完成，这极大地限制了校准装置对集成电路测试系统的通用性。

发明内容

本发明的目的是针对上述问题，提出一种集成电路测试系统校准装置中矩阵开关通道映射方法：将矩阵开关的切换规则分层，并将被校准资源的通道逐层映射至矩阵开关通道，进而得到经过通道映射的矩阵开关切换规则。

本发明一种集成电路测试系统校准装置中矩阵开关通道映射方法，其步骤如下：

第一步：将矩阵开关的切换规则分层，分为逻辑序号层、物理序号层、矩阵开关序号层，其中，逻辑序号层由逻辑序号构成，对应被校准资源的通道序号，物理序号层由物理序号构成，对应矩阵开关外部接线的序号，矩阵开关序号层由矩阵开关序号构成，对应矩阵开关通道的序号；

第二步：定义逻辑序号至物理序号的映射表，将被校准资源的通道序号逐项映射至矩阵开关外部接线的序号，该映射表是与被校准资源对应的，与矩阵开关的型号不相关；

第三步：定义物理序号至矩阵开关序号的映射表，将矩阵开关外部接线的序号逐项映射至矩阵开关通道序号，该映射表是与矩阵开关的型号和配置对应的，与被校准资源不相关；

第四步：矩阵开关切换规则通过上述映射表转换得到，首先通过逻辑序号至物理序号的映射表转换得到物理序号的序列，将该序列作为输入，通过物理序号至矩阵开关序号的映射表再进行一次转换，转换的结果就是矩阵开关的切换规则；

第五步：通过编辑逻辑序号至物理序号的映射表、物理序号至矩阵开关序号的映射表，可以实现更改矩阵开关切换规则的目的。

本发明一种集成电路测试系统校准装置中矩阵开关通道映射方法的优点是将矩阵开关的切换规则分为3层，并通过2张映射表进行转换，切换规则的每一层都有明确的物理意义，与现有的矩阵开关切换规则相比，结构清晰、意义明确。在需要更改矩阵开关的切换规则时，只需要根据情况编辑某一分层的内容，增强了校准装置的通用性，具有运行可靠、维护成本低等特点，尤其适合于通用型的集成电路测试系统校准装置。实测表明，应用本发明的映射方法对一种被校准资源50通道规模的切换规则进行更改可在5分钟以内完成，而使用矩阵开关的驱动程序进行同样规模的更改至少需要60分钟。

附图说明

图1为矩阵开关通道映射方法工作原理图。

图2为矩阵开关通道映射用法示意图。

图3为实施例对应的通道映射关系详解图。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步的详细说明，但本发明的实施方式不限于此。

以50校准端口的集成电路测试系统校准装置为例进行说明：

根据图2的示例，针对一个50校准端口的集成电路测试系统校准装置，选用4×92规模的矩阵开关，50个校准端口通过50路标准IDC插头引出，50路IDC插头与矩阵开关之间通过50路排线建立连接，50个校准端口占用了矩阵开关的50列，校准装置的设备与矩阵开关的其余行、列相连。

参照图1，本实施例的通道映射分为如下几步：