[发明专利]光学低通滤波器基片加工工艺有效

专利信息
申请号: 201210219004.X 申请日: 2012-06-20
公开(公告)号: CN103506910B 公开(公告)日: 2017-09-15
发明(设计)人: 刘德辉 申请(专利权)人: 山东博达光电有限公司
主分类号: B24B9/06 分类号: B24B9/06;B28D5/04;B24B37/04;B24B29/02;B08B3/12
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司33212 代理人: 金祺
地址: 271500 *** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 光学 滤波器 加工 工艺
【权利要求书】:

1.一种光学低通滤波器基片加工工艺,包括以下工艺步骤:

a.定向

采用多向调整夹持器(2)对晶体光轴面(4)进行定向,从而实现X光定向,定向精度控制在25°20′±10′;

b.磨基准面

将定好向的夹持器放置到平面立磨机上进行基准面研磨,立磨机转速采用1000-1300转/每分钟,进刀量采用0.05-0.35mm/每分钟,厚度控制在基片最终尺寸+20μm;

c.切条

将磨好基准面的晶体块粘在玻璃板(5)上,并在单刀切割机上按照基片尺寸进行切条;

d.切片

采用线切割机进行切片,采用Φ0.1-Φ0.35mm钢丝线,磨料采用1200#粒度的绿色碳化硅,进刀速率采用0.05-0.15mm/每分钟,磨削液温度采用15-25℃,磨料输送量采用4-10升/每分钟,损伤层深度控制在0-10μm;

e.粘砣

将切割好的晶片排列整齐后,用粘接剂粘接成晶片砣(7);

f.磨砣

将晶片砣(7)放入游行轮(9),在双面研磨机中磨砣,达到基片需求尺寸;

g.化砣

将晶片砣(7)的粘接剂融化;

h.粗研磨

将化砣后晶片放入研磨机内进行粗研磨,磨料采用1200#绿碳化硅,粗磨加工量达到每分钟0.01-0.05mm;

i.倒角

按照基片要求将粗研磨后晶片的相应角和边进行倒角倒边加工;

j.细研磨

将倒角倒边后晶片用高纯水清洗10-20分钟后放入研磨机进行细研磨,磨料采用3000#绿碳化硅,细磨加工量达到每分钟0.005-0.008mm;

k.抛光

将细研磨后晶片(10)在高纯水中清洗10-20分钟后放入抛光机进行抛光,磨料采用8000#氧化铈抛光粉,抛光加工量达到每分钟0.1-0.3μm;

l.清洗

将抛光后晶片在超声清洗机内加高纯水清洗60-90分钟并烘干后,装入无尘盒内;

m.检验

对加工好的晶片进行检验,合格的作为基片标记入库。

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