[发明专利]一种光照烘培的方法无效
| 申请号: | 201210215622.7 | 申请日: | 2012-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN102750728A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
| 发明(设计)人: | 王兆其;李杨;李淳芃 | 申请(专利权)人: | 北京中科广视科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T15/50 | 分类号: | G06T15/50 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100080 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光照 方法 | ||
1.一种光照烘培的方法,其特征在于,包括以下步骤:
A、输入预处理的光照图纹理,利用所述光照图纹理创建一张标记纹理;
B、通过所述标记纹理计算每个三角形的像素级别纹理,根据所述像素级别纹理计算每个三角形的细分级别,输出一张三角形细分纹理,根据所述细分纹理细分三角形,并对细分后需要执行缝合操作的三角形执行缝合操作;
C、计算所有所述细分后的三角形的优化的定点颜色,对场景进行着色操作。
2.根据权利要求1所述的光照烘培的方法,其特征在于,所述步骤A中,利用所述光照图纹理创建一个标记纹理,进一步包括以下步骤:
输入光照图纹理,使用片元着色器在纹理空间绘制所有三角形,每个三角形的位置由其纹理坐标乘以预设值Res计算得出;
使用硬件光栅化采样每个三角形,产生的片元对应于每个三角形的一个采样点;
对于每个采样点,访问光照图对应的图素,然后计算对应图素与周围颜色梯度的插值,如果该插值超过预设阙值Hfvalue,将其标记为高频像素,否则将其标记为低频像素,得到保存有采样点的标记信息的一张标记纹理。
3.根据权利要求1所述的光照烘培的方法,其特征在于,所述步骤B中,通过所述标记纹理计算每个三角形的像素级别纹理,进一步包括以下步骤:
创建一个帧缓存对象,视口的大小设为Res乘以Res,保证对光照图和标记纹理做逐像素操作;
绘制所有三角形,为每个三角形绑定一张光照图、一张标记纹理和不同的格式参数,为片元着色器传递逐面的数据;
通过硬件光栅化采样每个三角形得到片元采样,计算每个片元对应的纹理 坐标TCc,方位标记纹理,获取其图素值;
如果Mc无效,输出无效像素;
如果Mc是有效低频像素,输出低频像素,不需要细分;
如果Mc是有效高频像素,进一步判断所述高频像素所属三角形是否需要细分及其细分级别,得到像素级别纹理,所述像素级别纹理的像素保存了所属三角形细分级别参数以及三角形索引Ti。
4.根据权利要求3所述的光照烘培的方法,其特征在于,所述格式参数包括三角形顶点坐标和三角形索引Ti。
5.根据权利要求3所述的光照烘培的方法,其特征在于,进一步判断所述高频像素所属三角形是否需要细分及其细分级别,进一步包括以下步骤:
找到所述高频像素的最近的子三角形采样点,如果发现所述采样点在某个子三角形顶点上,则判断不需要在该细分级别下细分采样所属三角形,输出上一级细分级别的高频像素;
如果所述采样点不在任何子三角形顶点上,计算其最近的子三角形Tnear的三个顶点纹理坐标,通过访问光照图得到三个新的子三角形的采样颜色值,计算所述最近的子三角形Tnear在本细分级别下的新的重心坐标,计算所述最近的子三角形Tnear的三个顶点的插值颜色Ci,访问光照图,得到当前采样的颜色Cc,如果所述插值颜色Ci与所述当前采样的Cc的插值超过HFvalue,则输出本级别细分级别的高频像素,再次细分后重新计算,否则输出上一级别高频像素。
6.根据权利要求1所述的光照烘培的方法,其特征在于,所述步骤B中,根据所述像素级别纹理计算每个三角形的细分级别,输出一张三角形细分纹理,进一步包括以下步骤:
绘制其数量为Res*Res的点,使用GPU中的发射法,顶点着色器做发射操作,对于每个顶点,计算其纹理坐标,访问像素级别纹理,获取所属三角形的三角形索引Ti和细分级别参数R,根据所述所属三角形的三角形索引Ti,计算 顶点的正确位置后重新设置顶点位置,将所述细分级别参数R和所述所属三角形的三角形索引Ti封装发送至片元着色器,硬件片元逻辑操作,输出三角形的正确的细分级别,得到一张大小等于三角形个数的三角形细分纹理,所述三角形细分纹理的每个像素保存了所属三角形的细分级别参数。
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