[发明专利]水汽检测器件及水汽检测方法有效
申请号: | 201210206555.2 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN103513163A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 宋兴华 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R27/26;G01R31/02 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 水汽 检测 器件 方法 | ||
1.一种水汽检测器件,用于检测水汽对半导体器件可靠性的影响,其特征在于,包括:
一湿池结构,用以提供水汽;
一待测结构,用以接收所述湿池结构提供的水汽;及
一标准结构,该标准结构与所述待测结构相同,且与所述湿池结构相隔离。
2.如权利要求1所述的水汽检测器件,其特征在于,所述待测结构和标准结构分列于所述湿池结构两侧。
3.如权利要求2所述的水汽检测器件,其特征在于,还包括一空置结构,所述空置结构位于所述标准结构和湿池结构之间,用于隔离所述标准结构和湿池结构。
4.如权利要求3所述的水汽检测器件,其特征在于,所述空置结构为金属填充区域。
5.如权利要求1所述的水汽检测器件,其特征在于,所述湿池结构包括一超低K电介质区域和一围绕所述超低K电介质区域的密封环。
6.如权利要求5所述的水汽检测器件,其特征在于,所述密封环具有开口,所述开口暴露出所述超低K电介质区域,且所述开口靠近所述待测结构。
7.如权利要求3~6任一项所述的水汽检测器件,其特征在于,所述待测结构、标准结构、空置结构和湿池结构为矩形。
8.如权利要求7所述的水汽检测器件,其特征在于,所述矩形的长度及宽度皆为5um~1000um。
9.如权利要求8所述的水汽检测器件,其特征在于,所述矩形的长度及宽度皆为50um~100um。
10.如权利要求1所述的水汽检测器件,其特征在于,所述待测结构和标准结构皆为电容结构。
11.一种基于权利要求1~10中任一项所述的水汽检测器件的水汽检测方法,其特征在于,包括:
测量待测结构和标准结构的电性参数;
将测得的待测结构和标准结构的电性参数进行比较,以判断水汽对待测结构的影响。
12.如权利要求11所述的水汽检测方法,其特征在于,所述电性参数包括:电容,击穿电压,经时击穿及漏电流。
13.如权利要求12所述的水汽检测方法,其特征在于,若所述待测结构和标准结构的电容相差小于3%,则表明水汽对待测结构的影响可以接受。
14.如权利要求12所述的水汽检测方法,其特征在于,若所述待测结构和标准结构的击穿电压相差小于2V,则表明水汽对待测结构的影响可以接受。
15.如权利要求12所述的水汽检测方法,其特征在于,若所述待测结构和标准结构的经时击穿相差小于2年,则表明水汽对待测结构的影响可以接受。
16.如权利要求12所述的水汽检测方法,其特征在于,若所述待测结构和标准结构的漏电流相差小于一个数量级,则表明水汽对待测结构的影响可以接受。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210206555.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:隐藏于门板内的地铰链
- 下一篇:可更换密码的无钥匙锁具