[发明专利]一种触控检测方法、触控面板及液晶显示器有效

专利信息
申请号: 201210206035.1 申请日: 2012-06-18
公开(公告)号: CN102779082A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 张郑欣;徐帅 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 方法 面板 液晶显示器
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种触控检测方法、触控面板及液晶显示器。

背景技术

触摸屏液晶显示器的触控面板可以是单层自电容结构。单层自电容触控面板只有一层ITO(Indium Tin Oxides,一种N型氧化物半导体),每个ITO触控单元单独通过一条数据线与控制芯片连接,因此可以对每个ITO触控单元进行独立检测,从而能够实现多点触控。

目前的单层自电容触控面板存在触控检测运算量大的缺陷。假如单层自电容触控面板有M×N个ITO触控单元(即M×N个电容),则有M×N条数据线连接到控制芯片,对于一个触控动作,需要进行M×N次检测操作,运算量较大,对控制芯片处理器要求较高,且自电容数量越多,触控检测的运算量越大。

发明内容

本发明的目的是提供一种触控检测方法、触控面板及液晶显示器,以解决现有单层自电容触控面板触控检测运算量较大的问题。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的:

一种触控检测方法,单层自电容触控面板的所有触控单元划分为多个触控单元组,该方法包括:

控制芯片向触控单元组的X控制模块发送脉冲检测信号;

所述触控单元组X的控制模块将所述脉冲检测信号发送给所述触控单元组X中的所有触控单元,并根据所述触控单元组X中的所有触控单元的电平信号确定所述触控单元组X的电平信号,将所述触控单元组X的电平信号返回给所述控制芯片;

仅当所述触控单元组X的电平信号表征发生触控动作时,所述控制芯片通过所述触控单元组X的控制模块依次向所述触控单元组中的触控单元发送脉冲检测信号,确定产生表征发生触控动作的电平信号的触控单元。

一种触控面板,包括控制芯片和触控单元,单层自电容触控面板的所有触控单元划分为多个触控单元组,所述触控面板还包括各个触控单元组的控制模块:

所述控制芯片用于,向触控单元组X的控制模块发送脉冲检测信号;

触控单元组X的控制模块用于,当接收到脉冲检测信号后,将所述脉冲检测信号发送给所述触控单元组X中的所有触控单元,并根据所述触控单元组X中的所有触控单元的电平信号确定所述触控单元组X的电平信号,将所述触控单元组X的电平信号返回给所述控制芯片;

所述控制芯片还用于,仅当所述触控单元组X的电平信号表征发生触控动作时,通过所述触控单元组X的控制模块依次向所述触控单元组中的触控单元发送脉冲检测信号,确定产生表征发生触控动作的电平信号的触控单元。

一种液晶显示器,包括上述的触控面板。

本发明提供的方法及产品,由于将单层自电容触控面板中的所有触控单元划分为多个触控单元组,首先判断触控单元组的电平信号是否表征发生触控动作。仅针对检测到表征发生触控动作的电平信号的触控单元组中的各个触控单元进行逐个扫描,进行触控检测。较之现有的单层自电容触控面板及其触控检测方法,降低了检测的运算量,进而降低了对控制芯片的要求,在不影响反应速度的前提下,可以降低生产成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的触控单元组划分示意图;

图2为本发明实施例提供的一种方法流程图;

图3为本发明实施例提供的触控面板结构示意图;

图4为本发明实施例提供的另一种方法流程图;

图5为本发明实施例提供的又一种方法流程图。

具体实施方式

本发明将单层自电容触控面板的所有触控单元划分为多个触控单元组,每个触控单元组对应一个控制模块。以图1所示为例,假如单层自电容触控面板有16个触控单元,则可以将这16个触控单元划分为图1所示的4个触控单元组,每个触控单元组包含4个触控单元。应当指出的是,一个单层自电容触控面板中,触控单元组的个数及具体划分方法依据触控面板的实际结构及使用需求确定,本发明不作限定。

基于本发明提出的触控单元组,本发明提供了一种触控检测方法,其实现方式如图2所示,具体包括如下操作:

步骤200、控制芯片向触控单元组X的控制模块发送脉冲检测信号;

触控单元组X表示触控面板上的任一触控单元组。

步骤210、触控单元组X的控制模块将脉冲检测信号发送给该触控单元组X中的所有触控单元,并根据该触控单元组X中的所有触控单元的电平信号确定触控单元组X的电平信号,将该触控单元组X的电平信号返回给所述控制芯片;

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