[发明专利]一种岩性密度仪器刻度系统及方法有效
| 申请号： | 201210191919.4 | 申请日： | 2012-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN102733800A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 黄雅;杜华伟;李明;王亮 | 申请（专利权）人： | 中国海洋石油总公司;中海油田服务股份有限公司 |
| 主分类号： | E21B49/00 | 分类号： | E21B49/00;G01V13/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 曲鹏 |
| 地址： | 100010 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 密度 仪器 刻度 系统 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种岩性密度仪器刻度系统，包括直线轨道、岩性密度仪器、镁块和铝块，其中：
岩性密度仪器设置在直线轨道上，镁块和铝块设置在直线轨道同一个方向的延长线上。
2.根据权利要求1所述的岩性密度仪器刻度系统，其中：
岩性密度仪器通过轨道车设置在直线轨道上。
3.根据权利要求1所述的岩性密度仪器刻度系统，其中：
镁块和铝块通过刻度架设置在直线轨道同一个方向的延长线上。
4.一种岩性密度仪器刻度方法，包括如下步骤：
将岩性密度仪器设置在直线轨道上；
将镁块和铝块设置在直线轨道同一个方向的延长线上；
采用岩性密度仪器依次对镁块和铝块进行刻度。
5.根据权利要求4所述的岩性密度仪器刻度方法，其中：
岩性密度仪器通过轨道车设置在直线轨道上。
6.根据权利要求4所述的岩性密度仪器刻度方法，其中：
镁块和铝块通过刻度架设置在直线轨道同一个方向的延长线上。
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