[发明专利]板料刻痕特征无损高精密测量装置在审
| 申请号: | 201210183606.4 | 申请日: | 2012-06-05 |
| 公开(公告)号: | CN103453838A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
| 发明(设计)人: | 陈长江;杨国舜;郭立杰;尤登飞;陆彬;陈军 | 申请(专利权)人: | 上海航天设备制造总厂 |
| 主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/24;G01B11/22 |
| 代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
| 地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 板料 刻痕 特征 无损 精密 测量 装置 | ||
1.一种板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,包括:支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架,所述第一传感器通过所述二维滑台连接至所述支架侧面框架上;所述导轨与所述支架的底面框架连接,所述单向滑台通过所述滑块和锁扣与所述导轨连接,所述转台组件与所述单向滑台连接;所述第二传感器通过所述托架与所述支架连接,且设置在所述单向滑台下方。
2.如权利要求1所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,所述转台组件进一步包括:转台、手柄和螺杆,所述转台连接至所述单向滑台,所述螺杆一端与所述转动手柄连接,另一端通过齿轮结构与转台连接。
3.如权利要求2所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,所述转台上设置有放射形光栅。
4.权利要求1所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,所述滑台中部为空心结构,用以放置所述转台。
5.权利要求1所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,所述第一传感器为二维激光位移传感器,用以实现对阀门膜片刻痕形态和残余厚度的测量。
6.权利要求1所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,所述第二传感器为单点激光位移传感器,用以实现对阀门膜片不同截面的自动测量。
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