[发明专利]待测物的辅助对位方法与其系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种待测物的辅助对位方法与其系统，尤其涉及一种用于电子工业的检测程序中辅助辨识待测物的特定特征位于该待测物上的位置的方法与其系统。

背景技术

电子工业中，印刷电路板等电子组件的制造过程中会先利用自动光学检测系统(Automatic Optical Inspection,AOI)进行检测，以检测出该印刷电路板表面的缺陷，一般而言，该印刷电路板可为具有多个部件(pieces)的软性印刷电路板、硬性印刷电路板、晶圆等，因为各该部件的质量直接关系到各该部件设置电子组件后是否能正常运作，因此对该印刷电路板进行质量检测为相当的重要环节。

其中，该自动光学检测系统在完成该印刷电路板的检测后，会将该待测物上所检测出具有缺陷的部件的相关检测结果传送到复检站，再通过该复检站的复检装置以人工判读的方式确认该检测结果是否为真实缺陷或仅为该自动光学检测系统的误判，以在确认为真实缺陷之后利用人工或机器的方式进行该部件的特定位置标记或去除，以在后续以表面粘着技术(SMT)的方式设置电子组件时，排除具有缺陷的部件。

再者，上述检测程序中仅能针对该印刷电路板的第一面中具有缺陷的部件进行处理，但实务上，对于具有缺陷的部件需要进行双面的标记或去除，以避免相对于被去除的第一面的第二面被设置电子组件，然而，针对该第二面的标记或去除目前仍以人工的方式来进行，具体来说，操作员需依照该第一面上具有缺陷的部件位置对应寻找该部件位于该第二面的位置，以标注或直接去除其特定点，但此种仅以人工进行对位的方式，当位于该印刷电路板的部件数量增多或形状不对称时，很容易发生标记错误、标记数量缺漏等的情况，且在操作上相当耗时，造成检测程序上很大的缺陷。

因此，本发明提供一种待测物的辅助对位方法与其系统，可辅助操作员能够轻易地且快速地辨识该待测物的第一面上特定位置所对应位于该第二面的位置，以达到降低操作员的作业时间，甚至可进一步应用于在特定程序中对待测物的第一面及第二面的特定部件进行对位标记，达到提升生产线效率的技术效果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种待测物的辅助对位方法与其系统，可辅助操作员在检测程序中能够轻易地且快速地辨识该缺陷在待测物中相对应的第一面与第二面中的对应位置，达到提升生产线效率的技术效果。

为达上述目的及其他目的，本发明提供一种待测物的辅助对位方法，用于辅助辨识待测物的待测区中的特定特征的位置，该辅助对位方法包含：提供具有处理单元及显示模块的辅助对位系统，且该处理单元电连接该显示模块；令该处理单元接收包含该特定特征的特征信息；以及令该处理单元根据该特征信息而对应产生标识信息，并在该显示模块的特定区域内显示该标识信息，其中该特定区域与该待测区相对应。

为达上述目的及其他目的，本发明提供一种待测物的辅助对位系统，用于辅助辨识待测物的待测区中的特定特征的位置，该辅助对位系统包含处理单元及显示模块。其中，该处理单元，用于接收包含该特定特征的特征信息以对应产生标识信息；该显示模块，电连接该处理单元，且该显示模块用于在其特定区域内显示该标识信息，其中该特定区域与该待测区相对应。

在实施例中，该特征信息包含检测结果及控制信息，该检测结果由检测装置或复检装置所提供，且该控制信息由输入模块所提供。

在实施例中，该检测结果包含该待测物的特定位置及缺陷位置的至少其中之一，该控制信息包含该待测物的尺寸、形状、排版的至少其中之一。

在实施例中，该显示模块为显示屏幕，且该标识信息的显示方法为在该显示屏幕上的特定像素位置发亮。

在实施例中，该检测装置或该复检装置产生关于该待测物的第一面的检测结果，而该处理单元产生关于该待测物中对应于该第一面的第二面的标识信息。

在实施例中，该检测装置或该复检装置产生关于该待测物的第一面的检测结果，而该处理单元产生关于该待测物中该第一面的标识信息及对应于该第一面的第二面的标识信息。

在实施例中，该处理单元还包含切换器，用以切换该显示模块显示该待测物的第一面的标识信息及第二面的标识信息的至少其中之一。

在实施例中，该显示屏幕显示十字定位标志，该十字定位标志具有由中心向外渐层变化的色彩分布或灰阶变化，该十字定位标志用以对应该待测物的至少一个定位孔以定位该待测物。

在实施例中，该显示模块还包含至少一个定位件，设置于该显示模块，该定位件用以对应该待测物的至少一个定位孔以定位该待测物。