[发明专利]用于确定介质特征和容器特征的设备及方法

权利要求书

1.一种用于确定容器内的物料的物位位置和/或两种物料之间的界面的位置的物位测量设备，所述物位测量设备朝向物料表面的方向发射电磁波或声波，所述物位测量设备(701)包括：

回波曲线获取设备(104)，用于获取至少一条回波曲线；

回波识别设备(7021)，用于在所述至少一条回波曲线中识别至少两个回波；以及

速度确定设备(7023)，用于确定所述至少两个回波的速度值；

其中，所述物位测量设备还包括用于自动地确定特征值的设备(7027)，所述特征值选自包括与布置在所述容器的顶部区域中的圆顶的圆顶通道长度、所述容器的容器高度、物料的渗透率值以及物料的介电常数值相关的特征值的组中；

其中，所述设备(7027)被设计成使用所确定的所述回波的速度值中的至少一个速度值来确定所述特征值。

2.根据权利要求1所述的物位测量设备，还包括：

多重回波检测设备(7024)，用于将在所述回波曲线中的来自于物料表面、来自于故障位置和/或来自于容器底部的多次反射的至少一个回波分类为多重回波；

其中，所述设备(7027)被设计成使用由所述多重回波检测设备分类的多重回波的至少一个速度值来自动地确定所述特征值，以用于确定所述特征值。

3.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，包括：

底部回波检测设备(7024)，用于将在所述回波曲线中的来自于故障位置和/或容器底部的反射的至少一个回波分类为底部回波；

其中，所述设备(7027)被设计成使用由所述底部回波检测设备分类的底部回波的至少一个速度值或使用界面回波的至少一个速度值来自动地确定所述特征值，以用于确定所述特征值。

4.根据权利要求3所述的物位测量设备，

其中，所述用于自动地确定特征值的设备(7027)通过应用如下方程来确定所述物料的渗透率值与所述物料的介电常数值的乘积：

ϵM·μMϵL·μL=(1+|VBVL|)2]]>

其中，ε_M表示所述物料的介电常数值，ε_L表示覆盖气氛的介电常数值，μ_M表示所述物料的渗透率值，μ_L表示所述覆盖气氛的渗透率值，V_B表示底部回波的速度，V_L表示物料回波的速度。

5.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，

其中，所述用于自动地确定特征值的设备(7027)被设计成用于根据物料回波的速度矢量与底部回波的速度矢量的交点来确定所述容器的容器高度。

6.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，

其中，所述用于自动地确定特征值的设备(7027)被设计成用于根据至少两个多重回波的速度矢量的至少一个交点来确定所述容器的圆顶通道的长度。

7.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，

其中，所述用于自动地确定特征值的设备(7027)被设计成借助于所述至少两个回波的所述速度值来确定所述容器内的物料和/或另一种介质的介电常数值。