[发明专利]绝缘子RTV涂层老化的判断方法

权利要求书

1.一种绝缘子RTV涂层老化的判断方法，其特征在于，包括：

对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片；

对所述试片进行电声脉冲法PEA空间电荷测试，以得到所述试片的空间电荷密度分布曲线；

根据所述试片的空间电荷密度分布曲线计算得出所述试片的空间电荷总量；

根据所述试片的空间电荷总量判断所述RTV涂层的老化程度。

2.根据权利要求1所述的判断方法，其特征在于，

对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片之前还包括：

对已知老化程度的RTV涂层试片进行PEA空间电荷测试，以得到空间电荷密度的标准分布曲线；

根据所述标准分布曲线计算得出标准空间电荷总量，

根据所述试片的空间电荷总量判断所述RTV涂层的老化程度包括：

将所述试片的空间电荷总量与所述标准空间电荷总量进行比较；

根据比较结果得出所述试片的老化程度；

利用所述试片的老化程度确定RTV涂层的老化程度。

3.根据权利要求2所述的判断方法，其特征在于，

对已知老化程度的RTV涂层试片进行PEA空间电荷测试，以得到空间电荷密度的标准分布曲线包括：对多种型号的已知老化程度的RTV涂层分别进行PEA空间电荷测试以得到多种型号的RTV涂层的空间电荷密度的标准分布曲线，

根据所述标准分布曲线计算得出标准空间电荷总量包括：

根据所述多种型号的RTV涂层的空间电荷密度的标准分布曲线分别计算得出各型号的RTV涂层的标准空间电荷总量；

按照RTV涂层的型号分别保存该型号对应的标准空间电荷总量，

将所述试片的空间电荷总量与所述标准空间电荷总量进行比较包括：

根据取样的RTV涂层的型号确定该RTV涂层型号对应的标准空间电荷总量；

将所述试片的空间电荷总量与取样的RTV涂层的型号对应的标准空间电荷总量进行比较。

4.根据权利要求2或3所述的判断方法，其特征在于，所述已知老化程度的RTV涂层为没有老化的RTV涂层。

5.根据权利要求2或3所述的判断方法，其特征在于，所述已知老化程度的RTV涂层为已经完全老化的RTV涂层。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的判断方法，其特征在于，对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片包括：对绝缘子不同位置的RTV涂层进行取样得到试片。

7.根据权利要求6所述的判断方法，其特征在于，对绝缘子不同位置的RTV涂层进行取样得到试片包括：

将所述绝缘子的伞裙沿半径划分为面积相等的扇形区域；

在每个所述扇形区域内的上表面的一个或多个位置对RTV涂层进行取样得到试片。

8.根据权利要求6所述的判断方法，其特征在于，根据所述试片的空间电荷密度分布曲线判断所述RTV涂层的老化程度还包括：

记录所述试片在绝缘子上的取样位置、所述试片的空间电荷总量、以及所述试片取样的绝缘子的运行环境、运行年限。

9.根据权利要求1至3中任一项所述的判断方法，其特征在于，进行所述PEA空间电荷测试的外加极化电场强度范围取6kV/mm至8kV/mm，加压时间范围取5min至60min，参考信号的电场强度范围取1kV/mm至2kV/mm，测试脉冲幅值范围取200V至600V，所述测试脉冲脉宽范围取2ns至10ns。