[发明专利]研磨垫的使用方法和晶圆的研磨方法无效

专利信息
申请号: 201210163197.1 申请日: 2012-05-22
公开(公告)号: CN102672598A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 李儒兴;秦海燕;张磊;李志国 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: B24B37/20 分类号: B24B37/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 研磨 使用方法 方法
【权利要求书】:

1.一种研磨垫的使用方法,其特征在于,包括:在采用同一研磨垫对晶圆进行研磨时,将研磨垫的使用周期划分为两个以上的阶段,所述研磨垫在不同的阶段对应不同的研磨参数。

2.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨参数包括:研磨时间、研磨压力和研磨转速中的一种或任意组合。

3.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述将研磨垫的使用周期划分为两个以上的阶段包括:获取研磨垫在使用周期中研磨每个所述晶圆时的研磨性能;根据所述研磨性能将研磨垫的使用周期划分为两个以上的阶段。

4.如权利要求3所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨性能包括:晶圆研磨后目标值与实际值之间的偏移量。

5.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,每个所述阶段对应的使用时间不同。

6.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,每个所述阶段对应的使用时间相同。

7.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,为时间靠前的所述阶段提供较大的所述研磨参数。

8.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨垫的使用周期包括前期阶段和后期阶段,所述前期阶段的研磨参数是所述后期阶段对应的研磨参数的1.05倍~1.2倍。

9.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨垫为无纺布研磨垫。

10.一种晶圆的研磨方法,其特征在于,采用权利要求1至9中任一项所述的研磨垫的使用方法使用研磨垫。

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