[发明专利]研磨垫的使用方法和晶圆的研磨方法无效
申请号: | 201210163197.1 | 申请日: | 2012-05-22 |
公开(公告)号: | CN102672598A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 李儒兴;秦海燕;张磊;李志国 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | B24B37/20 | 分类号: | B24B37/20 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 研磨 使用方法 方法 | ||
1.一种研磨垫的使用方法,其特征在于,包括:在采用同一研磨垫对晶圆进行研磨时,将研磨垫的使用周期划分为两个以上的阶段,所述研磨垫在不同的阶段对应不同的研磨参数。
2.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨参数包括:研磨时间、研磨压力和研磨转速中的一种或任意组合。
3.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述将研磨垫的使用周期划分为两个以上的阶段包括:获取研磨垫在使用周期中研磨每个所述晶圆时的研磨性能;根据所述研磨性能将研磨垫的使用周期划分为两个以上的阶段。
4.如权利要求3所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨性能包括:晶圆研磨后目标值与实际值之间的偏移量。
5.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,每个所述阶段对应的使用时间不同。
6.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,每个所述阶段对应的使用时间相同。
7.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,为时间靠前的所述阶段提供较大的所述研磨参数。
8.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨垫的使用周期包括前期阶段和后期阶段,所述前期阶段的研磨参数是所述后期阶段对应的研磨参数的1.05倍~1.2倍。
9.如权利要求1所述的研磨垫的使用方法,其特征在于,所述研磨垫为无纺布研磨垫。
10.一种晶圆的研磨方法,其特征在于,采用权利要求1至9中任一项所述的研磨垫的使用方法使用研磨垫。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宏力半导体制造有限公司,未经上海宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210163197.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:退役乘用车安全气囊引爆器
- 下一篇:一种相转移催化剂季铵盐及其制备方法