[发明专利]无基准条件之配合间隙检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特指一种结合光电仪器测量产品加工质量的检测方法。

背景技术

现有技术中，对于产品加工质量的检测，有的是采用目测方式，有的是采用简单的游标卡尺或螺旋测量仪对产品检测，但无论是目测还是简单的工具检测，检测精度都相对低，误差大，且较为劳累。随着科技的发展，对精密定位测量提出了越来越高的要求，因而传统的游标卡尺或螺旋测量仪很难满足测量要求。随后出现光电测量仪器，其利用影像攫取器（如CCD）将被测物之影像转换为电子信号，再电子信号送到电脑，由电脑的图像处理芯片将影像放大显示在显示器上，再利用电脑三维坐标对应捕捉测量，这种方式可降低测量误差，提升测量精度。由此，利用光电测量仪器来检测所加工产品是否满足质量要求则成为目前常用的手段，但现有的光电检测时，对于固有基准线或基准点的产品来说，检测相对容易，直接对应即可；而对于无固有基准来说，检测就相对复杂，难以找到对应点或线，不利于批量快速检测，如对于无基准的子母轮廓嵌接配合的间隙检测，在难以采用光电快速检测的情况下，目前只好是加工好子母产品后，将两者嵌接在测量间隙大小，这种方式效率低，且浪费人力、物力，极大影响了生产检测的进程，影响了整个生产工艺流程。

本申请人有鉴于上述习知检测方法之缺失与不便之处，秉持着研究创新、精益求精之精神，利用其专业眼光和专业知识，研究出一种应用范围广，符合产业利用的无基准条件之配合间隙检测方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种无基准条件之配合间隙检测方法，可有效提高检测效率的同时还可确保检测的准确和质量，且操作工序简单、方便。

为达到上述目的，本发明系采用如下技术方案实现：

无基准条件之配合间隙检测方法，该方法用于子母轮廓嵌接配合的间隙检测，包括如下步骤：

1）、将母轮廓的标准图A输入光电测量仪器的电脑中存储，再将按子轮廓生产得到的实体产品B放入光电测量仪器的测量平台，光电测量仪器通过测量镜头获得实体产品B影像，并根据影像任意抓取实体产品B外轮廓上多段线段B1；

2）、将步骤1）取得的多段线段B1与母轮廓的标准图A嵌合比较，找出多段线段B1中与母轮廓的标准图A相应嵌合部位之间的法向间隙最小的线段，并记为B11；

3）、以步骤2）中取得的法向间隙最小的线段B11作为基准线，用于定位待被测的以子轮廓生产得到的实体产品B，即可由光电测量仪器将实体产品B之影像准确嵌合于母轮廓的标准图A中，检测出实体产品B与母轮廓的标准图A之间的配合间隙，由此达到间隙检测。

上述方案中，所述任意抓取实体产品B外轮廓上的多段线段B1为弧线、直线或多义线，线段的长度任意取。

本发明提供的检测方法具有如下优点：1、利用光电测量仪器任意抓取按子轮廓生产得到的实体产品外轮廓上多段线段，将取得的多段线段与母轮廓的标准图嵌合比较，找出多段线段中与母轮廓的标准图相应嵌合部位之间的法向间隙最小的线段作为基准，用于定位待被测的以子轮廓生产得到的实体产品，即可实现检测出实体产品与母轮廓的标准图之间的配合间隙，达到批量快速检测，有效提升检测效率，促进生产，确保检测的精度，保证产品的质量，减少不良率。2、无需完全生产好子母产品后再检测，节约原材料，降低成本，省时、省事。3、操作工序简单、方便，应用面广，符合产业大批量、自动化生产的使用。

附图说明：

附图1为本发明其一实施工作示意图。

具体实施方式：

本发明提供的无基准条件之配合间隙检测方法，其包括如下步骤：

1）、将母轮廓的标准图A输入光电测量仪器的电脑中存储，标准图A为工程图；再将按子轮廓生产得到的实体产品B放入光电测量仪器的测量平台，光电测量仪器通过测量镜头获得实体产品B影像，并根据影像任意抓取实体产品B外轮廓上多段线段B1；多段线段B1可为弧线、直线或多义线，线段的长度任意取，操作相当简便；

2）、将步骤1）取得的多段线段B1与母轮廓的标准图A嵌合比较，找出多段线段B1中与母轮廓的标准图A相应嵌合部位之间的法向间隙最小的线段，并记为B11；

3）、以步骤2）中取得的法向间隙最小的线段B11作为基准线，用于定位待被测的以子轮廓生产得到的实体产品B，即可由光电测量仪器将实体产品B之影像准确嵌合于母轮廓的标准图A中，检测出实体产品B与母轮廓的标准图A之间的配合间隙，由此达到间隙检测。

实施例：