[发明专利]一种用于复合滤棒的微波在线检测剔除方法有效
申请号: | 201210118327.X | 申请日: | 2012-04-20 |
公开(公告)号: | CN103376266A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 闵晨;张跃武;陈林;王会石;梁燕 | 申请(专利权)人: | 上海浔科自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01N22/02 | 分类号: | G01N22/02 |
代理公司: | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 | 代理人: | 倪继祖 |
地址: | 201206 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 复合 微波 在线 检测 剔除 方法 | ||
技术领域
本发明属于微波非电量测试技术领域,尤其涉及一种用于复合滤棒的微波在线检测剔除方法。
背景技术
目前,卷烟滤棒已由单功能向多功能方向发展,在高档卷烟中,开始大量使用复合滤棒,开发集减害降焦、增香补香和突出产品差异化功能为一体的复合滤棒,已成为中式卷烟研究的重点之一。
复合滤棒通常由二至三种不同材质滤棒,经专用复合滤棒成型机分切、拼接而成,如图1所示,复合滤棒包括依次首尾相连的A1段滤棒、B1段滤棒、A2段滤棒、B2段滤棒和A3段滤棒,其中,A1段滤棒、A2段滤棒和A3段滤棒的材质为普通高透滤棒;B1段滤棒、B2段滤棒材质为同心圆滤棒。整根复合滤棒长120mm,除A2段滤棒的长度为40mm外,其余相位滤棒的长度均为20mm长。
生产过程中,经常容易出现如下几种严重影响产品质量的缺陷:
1、拼接间隙:相邻两相位滤棒之间的拼接不严密,产生缝隙,如A1段滤棒和B1段滤棒之间的间隙长度超过要求值。
2.滤棒错位:即应放入某滤棒位置的滤棒,错放入了其他滤棒的位置上,如应该放入A1段位置的滤棒,错放入B1段位置中。
3.相位偏移:即滤棒长度不符合工艺质量要求,如A1段滤棒的长度误差大于要求值时,判定该复合滤棒为相位偏移。
目前,有采用光电照射法应用于检测复合滤棒的拼接间隙缺陷,但该方法不能检测复合滤棒错位和相位偏移。
因此,如何能实现能同时检测复合滤棒的拼接间隙、滤棒错位和相位偏移缺陷是本领域技术人员一直致力于研究的方向之一。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷而提供一种用于复合滤棒的微波在线检测剔除方法,该方法通过微波检测技术实现了复合滤棒拼接间隙、滤棒错位和相位偏移缺陷的在线检测及剔除。
本发明的目的是这样实现的:
本发明的一种用于复合滤棒的微波在线检测剔除方法,该复合滤棒包括依次首尾相连的A1段滤棒、B1段滤棒、A2段滤棒、B2段滤棒和A3段滤棒,包括以下步骤:
S1:给定各段滤棒的密度要求值和滤棒长度要求值以及各段滤棒之间间隙的间隙长度要求值;
S2:输入微波信号至空的微波谐振腔,并获得输出的标准微波功率衰减A0和标准微波谐振频率f0;
S3:被测复合滤棒从头至尾依次通过微波谐振腔时,通过对微波谐振腔输入微波信号,分别获得对应于被测复合滤棒上各个采样点的微波功率衰减A和微波谐振频率f;
S4:获得步骤S3采样得到的各个A、f值与步骤S1得到A0、f0的差值ΔA和Δf,并计算被测复合滤棒上各个采样点的密度ρ:
Ψ=a(ΔA/Δf)+b
ρ=cΔf(Ψ)+d
其中,Ψ为采样点的湿度,a、b、c和d为定标常数;
S5:根据步骤S4计算得到的被测复合滤棒上各个采样点的密度ρ值,制成被测复合滤棒ρ值的时序图,该时序图的横坐标为检测扫描时间,纵坐标为对应于某一检测扫描时间点的采样点的密度ρ值;
S6:根据步骤S4得到的时序图上同一密度ρ值出现持续的时间,结合被测复合滤棒的移动速度,计算得到被测复合滤棒上各段滤棒及各段滤棒之间间隙的长度;
S7:若相邻两段滤棒之间的间隙长度超过步骤S1给定的间隙长度要求值的±10%时,则判断该被测复合滤棒为拼接间隙缺陷,予以剔除;
若某段滤棒的ρ值超过步骤S1给定的密度要求值的±10%时,则判断该被测复合滤棒为滤棒错位缺陷,予以剔除;
若某段滤棒的长度超过步骤S1给定的滤棒长度要求值的±10%时,则判断该被测复合滤棒为相位偏移缺陷,予以剔除。
上述的一种用于复合滤棒的微波在线检测剔除方法,其中,步骤S4中,所述的定标常数a、b、c和d是通过对已知密度和湿度的四种不同材料滤棒做四次测量即可确定。
介质材料在微波谐振腔内的对谐振腔谐振频率和谐振幅度的影响是由于介质材料的介质常数不同而产生的。介质材料的介质常数通常是一个复数:ε=ε′-jε″。
其虚部ε″表示微波能量通过介质材料时的损耗;而实部ε′表示微波能量在介质材料中的储存。通过ε′和ε″即可得到物料湿度,同时也可得到物料的整体密度。而功率衰减和谐振频率等是与介电常数密切相关的物理量,只要测得这两个物理量就能够测得介质材料的密度和湿度。
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