[发明专利]过零检测方法及电路有效

专利信息
申请号: 201210114625.1 申请日: 2012-04-18
公开(公告)号: CN102662104A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 姚国良;马震宇 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G01R19/175 分类号: G01R19/175
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 检测 方法 电路
【说明书】:

技术领域

发明涉及电力线通信及控制领域,尤其涉及一种过零检测方法及电路。

背景技术

在电力线通信中,需要通过一个统一的时间点对通信进行同步控制,检测市电通过零点时的时间点可以确定一个统一的时间基准,从而对通信进行同步控制,因此市电的过零点检测成为电力线通信中不可缺少的组成部分。

目前过零检测电路方案有多种。如图1所示,为现有技术中的一种过零检测电路。在图1中,市电网络的火线连接桥式整流电路D的第一引脚,市电网络的零线连接桥式整流电路D的第三引脚;桥式整流电路D的第二引脚通过电阻R1连接光耦U1的一个输入端,桥式整流电路D的第四引脚连接光耦U1的另一个输入端;光耦U1的一个输出端接电源VDD,光耦U1的另一个输出端通过电阻R2连接三极管Q1的基极;三极管Q1的集电极通过电阻R3连接至三极管Q1的基极,且三极管Q1的集电极接检测端口P1.0。

该电路将市电直接通过全桥整流,形成100Hz的脉动直流信号,当光耦U1导通时,三极管Q1的集电极显示低电平,当光耦U1不导通时,三极管Q1的集电极显示高电平,而检测端口P1.0检测的是高电平,因市电在过零点时光耦U1不导通,故最终会在过零点产生一个100Hz的正脉冲信号,来实现过零点检测的目的。

但是在实现上述过零点检测的过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:由于市电电压高于光耦U1导通电压的时间较长,即图1所示过零检测电路中光耦U1导通的时间较长,因此功耗非常高。

发明内容

本发明的实施例提供一种过零检测方法及过零检测电路,用来降低现有技术中过零检测电路的功耗。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

本发明实施例提供一种过零检测方法,包括:

检测市电电压在检测端端口从低电平跳转到高电平的时间点t 0和相邻地从高电平跳转到低电平的时间点t1;

根据检测到的时间点t0和t1,确定市电电压通过零点时的时间点t。

本发明实施例提供的过零检测方法,通过检测市电电压在接近峰值时的两个特征点的时间点t0和t1,来间接检测过零点的时间点,由于市电电压高于接近峰值时的该两个特征点处电压的时间段较短,因此所述过零检测方法使过零检测电路的导通时间较短,所以功耗较低。

本发明实施例还提供了一种实现上述过零检测方法的过零检测电路,包括市电的火线和零线,所述市电的火线和零线连接有整流电路,所述整流电路连接有输出电路,且在所述市电的火线和零线与所述整流电路之间连接有限流电路。

本发明实施例提供的过零检测电路,通过所述限流电路的强限流作用使整个所述过零检测电路的电流大幅减小,从而使市电电压在接近峰值时所述过零检测电路才导通,所以所述过零检测电路导通时间短,因而功耗低。

附图说明

图1为现有技术中一种过零检测电路的具体实现电路示意图;

图2为本发明实施例过零检测方法的示意图;

图3为本发明实施例1过零检测电路的原理图;

图4为图3所示原理图的具体实现电路示意图;

图5为本发明实施例2过零检测电路的原理图;

图6为图5所示原理图的具体实现电路示意图;

图7为本发明实施例2过零检测电路的时序图。

具体实施方式

为了解决现有技术过零检测电路功耗高的问题,本发明提供一种过零检测方法及电路,下面结合附图和具体的实施例进行详细描述。

应当明确,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。

如图2所示,本发明实施例提供一种过零检测方法,包括:

S1、检测市电电压在检测端端口从低电平跳转到高电平的时间点t0和相邻地从高电平跳转到低电平的时间点t1;

S2、根据检测到的时间点t0和t1,确定市电电压通过零点时的时间点t。

本发明实施例提供的过零检测方法,通过检测市电电压在接近峰值时的两个特征点的时间点t0和t1,来间接检测过零点的时间点,由于市电电压高于接近峰值时的该两个特征点处电压的时间段较短,因此所述过零检测方法使过零检测电路的导通时间较短,所以功耗较低。

在步骤S2中,所述根据检测到的时间点t0和t1,确定市电电压通过零点时的时间点t包括:t=t0+0.5(t1-t0)-5。

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