[发明专利]控制器的测试装置和控制器老化实验箱

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，具体而言，涉及一种控制器的测试装置和控制器老化实验 箱。

背景技术

控制器老化实验箱是用来对控制器产品进行老化实验的装置，为进一步对控制器 产品的可靠性进行实验验证，提出了新的测试需求，即，在进行老化实验的同时，对 生产的控制器成品进行定时通断电实验(如上电1分钟后断电10秒钟，再连续循环多 次)，以评估产品的可靠性程度的高低。现有技术在对控制器进行通断电实验时需要通 过人为控制电源开关的通断来实现，发明人发现这种控制方式需要人为干预，无法对 通断电时间进行自动控制，并且此种需要人为干预的控制方式无法达到精确控制通断 电时间。

针对相关技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题，目前尚未 提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种控制器的测试装置和控制器老化实验箱，以解决 现有技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种控制器的测试装置，包 括：电源模块，连接于外部电源，用于将外部电源电压转换为被测控制器电压；开关 模块，连接于被测控制器；以及主控模块，与开关模块和电源模块分别相连接，用于 控制开关模块根据预设的通断电时间通断。

进一步地，控制器的测试装置还包括：通讯模块，第一端连接于外部调试仪，第 二端与主控模块相连接，用于将外部调试仪的通讯信号发送至主控模块，其中，通讯 信号包括通断电时间；以及存储模块，与主控模块相连接，用于存储通断电时间，其 中，主控模块用于控制开关模块根据存储模块中存储的通断电时间通断。

进一步地，控制器的测试装置还包括：显示模块，与主控模块相连接，用于显示 开关模块的状态。

进一步地，电源模块包括：整流电路，第一端连接于外部电源；以及稳压芯片， 第一端与整流电路的第二端相连接，稳压芯片的第二端与主控模块相连接。

进一步地，开关模块为继电器控制模块。继电器的控制线圈与主控模块相连接。

进一步地，通讯模块为RS485通讯电路。

进一步地，存储模块为FLASH模块。

进一步地，显示模块为LED灯显示模块。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，提供了一种控制器老化实验箱，包 括本发明上述内容所提供的任一种控制器的测试装置。

通过本发明，采用包括以下结构的控制器的测试装置：电源模块，连接于外部电 源，用于将外部电源电压转换为被测控制器电压；开关模块，连接于被测控制器；以 及主控模块，与开关模块和电源模块分别相连接，用于控制开关模块根据预设的通断 电时间通断，通过在测试装置内设置能够接收主控模块控制的开关模块，达到了使测 试装置在对被测控制器进行测试时能够按照设定的通断电时间对被测控制器进行通断 电控制，解决了现有技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题，进 而达到了测试装置能够自动进行通断电测试的效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实 施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的控制器测试装置的外部接线示意图；

图2是根据本发明实施例的控制器测试装置的内部接线示意图；

图3是根据本发明实施例的电源模块的电路图；

图4是根据本发明实施例的主控模块的电路图；以及

图5是根据本发明实施例的通讯模块的电路图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相 互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

本发明实施例提供了一种控制器的测试装置，该实施例的测试装置主要包括电源 模块、开关模块和主控模块，电源模块和开关模块均与主控模块相连接，当对被测控 制器进行通断电测试时，电源模块连接于外部电源，以将外部电源的电压转换为被测 试控制器的电压，开关模块连接于被测试控制器，主控模块按照设定的通断电时间控 制开关模块的通断以实现对被测控制器进行通断电控制。