[发明专利]显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置，尤其涉及显示图像的显示装置。

背景技术

为了确认制造显示装置的各个工序的实施结果是否达到较佳的状态，需要测量各个工序结果物的厚度、电阻、浓度、受污染的程度、临界值及器件的电学特性等，但是由于在测量过程中会使器件受损，因此对于工序特性而言，有时不能以实际基板为对象进行监测。

这种情况下，在形成有器件的基板的特定部分或者在另外的空白(blank)区域形成称做测试元件组(Test Element Group，简称为TEG)的图案并且相同地实施在形成有实际器件的基板实施的工序之后，测量测试元件组以评价相应的工序。

为了监测在显示装置的制造工序中发生的静电，在显示装置的周边区域形成包括晶体管的测试元件组并测量晶体管，从而由晶体管的变化监测静电。

但是，测试元件组内部的晶体管是独立形态的晶体管，其不能表示从整体上连接的、显示区域内部的多个晶体管。因此，即使测试元件组内部的晶体管因静电发生劣化，显示区域内部的晶体管也可以正常驱动，从而存在下述的缺点，即测试元件组内部的晶体管不能表示显示区域内部的晶体管。

如上所述，由于测试元件组内部的晶体管是独立结构，因此不能监测在柔性显示装置的保护膜装卸工序、膜划线(scribing)工序、激光剥离(Laser Lift Off，简称为LLO)工序以及模组(module)工序等中发生的静电。

发明内容

本发明的目的在于提供能够对工序中所发生的静电加强监测的显示装置。

根据本发明一实施例的显示装置包括：包括显示图像的多个显示像素的显示部；以及包括在所述显示部的周边形成的多个虚拟像素的虚拟部；所述虚拟像素内部可以形成有静电测试元件组。

所述静电测试元件组可以包括多个静电晶体管。

所述多个静电晶体管的静电源电极可以通过源连接部而互相连接。

所述多个静电晶体管的静电漏电极可以通过漏连接部而互相连接。

所述静电晶体管包括：与静电栅电极连接的静电栅焊盘；与所述静电源电极连接的静电源焊盘；以及与所述静电漏电极连接的静电漏焊盘；所述静电栅焊盘、静电源焊盘以及静电漏焊盘可以设置在相同的线上。

所述显示装置还可以包括围绕所述静电晶体管的单一护环。

所述单一护环的宽度可以为40μm至200μm。

所述单一护环可以由与所述静电栅电极或者所述静电漏电极相同的物质形成。

所述显示装置还可以包括围绕所述静电测试元件组的总护环。

所述总护环的宽度可以为40μm至200μm。

所述总护环可以由与所述静电栅电极或者所述静电漏电极相同的物质形成。

所述多个静电测试元件组可以与所述显示部的四个角落部相邻而成。

所述多个静电测试元件组可以沿着所述显示部的边缘形成。

根据本发明一实施例的显示装置通过在显示部的周边所形成的虚拟像素内部形成静电测试元件组，使得静电测试元件组的静电晶体管的变化能够表示显示部内的晶体管的变化，从而可以加强监测工序中发生的静电。

另外，由此通过正确地监测由静电引起的显示装置的不良，可以改善工序。

附图说明

图1是根据本发明第一实施例的显示装置的平面图；

图2是图1的A部分的放大图；

图3是在图2的虚拟像素上形成的静电测试元件组的平面图；

图4是沿着图3的IV-IV线截取的截面图；

图5是根据本发明第二实施例的显示装置的静电测试元件组的平面图；

图6是沿着图5的VI-VI线截取的截面图；

图7是显示单一护环(guard ring)的宽度小的显示装置在静电发生之前和之后静电晶体管的阈值电压变化的图表；

图8是显示单一护环的宽度小的显示装置在静电发生之前和之后静电晶体管的亚阈值斜率(Sub threshold Slope，简称为S.S)变化的图表；

图9是显示根据本发明第二实施例的显示装置在静电发生之前和之后静电晶体管的阈值电压变化的图表；

图10是显示根据本发明第二实施例的显示装置在静电发生之前和之后静电晶体管的亚阈值斜率(Sub threshold Slope，简称为S.S)变化的图表；

图11是根据本发明第三实施例的显示装置的平面图。

附图标记说明

1：总护环；            2：单一护环；