[发明专利]一种译码器测试装置有效
| 申请号： | 201210092683.9 | 申请日： | 2012-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN102590734A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 徐俊;丁钢;邹红 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁（集团）公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人： | 刘丽君 |
| 地址： | 430080 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 译码器 测试 装置 | ||
1.一种译码器测试装置，其特征是，包括微处理器模块、晶振时钟模块、光电隔离输出模块和直流稳压电路模块，所述直流稳压电路模块为所述微处理器模块提供稳压电源；所述晶振时钟模块接入所述微处理器模块，组成所述微处理器模块的内部振荡；所述微处理器模块发出的BCD码信号由所述光电隔离输出模块驱动所述译码器显示。
2.根据权利要求1所述的译码器测试装置，其特征在于，还包括反馈单元模块，所述反馈单元模块采集所述微处理器模块发出BCD信号及所述译码器运行状态信号，并判断是否与输入的BCD码信号相匹配后，再反馈给所述微处理器模块。
3.根据权利要求1或2所述译码器测试装置，其特征在于，还包括运行状态指示模块，运行状态指示模块接收所述微处理器模块的故障信号。
4.根据权利要求1或2所述译码器测试装置，其特征在于，还包括光电隔离输入模块，所述光电隔离输入模块将接收的BCD码信号输入所述微处理器模块，经运算处理发出BCD码数字信号，信号由所述光电隔离输出模块输出，驱动所述译码器。
5.根据权利要求1或2所述译码器测试装置，其特征在于，所述微处理器模块为AT89S52芯片。
6.根据权利要求1或2所述的译码器测试装置，其特征在于，所述直流稳压电路模块选用LM7805集成电路。
7.根据权利要求1或2所述的译码器测试装置，其特征在于，光电隔离输出模块包括TLP51-1管。
8.根据权利要求2所述的译码器测试装置，其特征在于，所述反馈单元模块包括TLP51-1管。
9.根据权利要求4所述的译码器测试装置，其特征在于，所述光电隔离输入模块包括TLP51-1管。
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