[发明专利]试样非抽出采集式气体分析仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种对烟囱、管道等配管内流动的气体进行分析的气体分析仪，更详细地说，涉及一种无需将上述配管内流动的气体抽出、通过向配管内流动的气体照射光进行分析的试样非抽出采集式气体分析仪。

背景技术

专利文献1中公开了一种以往作为向烟囱、管道等配管内流动的废气照射光进行分析的试样非抽出采集式气体分析仪。专利文献1所公开的气体分析仪为一种激光式气体分析仪，其向受测气体中照射激光，根据由该激光的光吸收所产生的光量变化测量气体浓度，其中，其具有：向受测气体中照射具有测量对象气体可光吸收的波长的激光的激光输出部、接收光吸收后的激光而输出检测信号的激光输入装置、以及通过对来自激光输入装置的检测信号进行处理而对气体进行确定的运算处理器(专利文献1中记载的权利要求7)。

另外，作为对基于试样非抽出采集式分析仪的废气成分自动测量系统的校准，JIS B 7993：2008中规定了用刻度校准用气室进行校准的方法。该方法为：在测量系统(分析仪)的光发射器和光接收器之间放置经准确测量的长度为1m的刻度校准用气室(gas cell)，向校准用气室导入零点校准气进行零点校准，然后再向校准用气室导入量程校准气进行跨度校准操作(JIS B7993：2008中的“7.3校准”)。

此外，作为试样非抽出采集式气体分析仪，专利文献2也公开了一种气体分析仪。专利文献2所公开的气体分析仪为一种激光式气体分析仪，其向受测气体中照射激光，根据由该激光的光吸收所产生的光量变化测量气体浓度，其中，其具有：激光二极管；将从激光二极管射出的激光向两个方向分支的分支装置；分支后的激光分别射入的、具有规定的长度并被气密地隔开的第1、第2光投射室；接收从各光投射室通过并穿透受测气体的激光的第1、第2光电二极管；分别配置有光电二极管、具有规定的长度并被气密地隔开的第1、第2光接收室(专利文献2中记载的权利要求1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2007-170841号公报

专利文献2：日本专利特开2010-286349号公报

非专利文献

非专利文献1：JIS B 7993：2008《基于试样非抽出采集式分析仪的废气成分自动测量系统》

发明内容

发明要解决的课题

但是，根据专利文献1所公开的气体分析仪，由于进行校准时，需要从烟囱、管道等配管上将其拆下，然后进行JIS B 7993：2008所规定的校准，因此测量状态和校准状态之间的切换麻烦，不能较容易地进行校准。另外，根据专利文献2所公开的气体分析仪，虽然无需将其从配管(采样线)拆下即可进行校准，但是当配管的直径较大时，由于零点校准气和量程校准气被导入的光投射室和光接收室的长度(光路长度)与包括采样线(sample line)在内的光路长度相比极短，因此不易准确地进行校准。

本发明鉴于上述问题而进行，其目的在于提供一种测量状态和校准状态之间切换简单、不仅能够容易地进行校准而且能够准确地进行校准的试样非抽出采集式气体分析仪。

用于解决问题的方案

为实现上述目的，本发明提供下述第1方案～第4方案所涉及的试样非抽出采集式气体分析仪。

本发明的第一方案为，一种试样非抽出采集式气体分析仪，用于对配管内流动的气体进行分析，其特征在于：具备导管，该导管由外筒和内筒构成，其中，所述外筒的一端侧及另一端侧气密地安装于所述配管的管壁，在壁部形成有开口部；所述内筒配置在所述外筒的内侧，在壁部形成有开口部；通过转动所述外筒及内筒中的一方或者两方，所述导管能够在测量状态和校准状态之间进行切换，其中，在所述测量状态，内筒的开口部和外筒的开口部连通，气体流入内筒内；在所述校准状态，外筒及内筒中的一方的壁部将另一方的开口部堵塞，气体不流入内筒内，

在所述测量状态下，从所述导管的一端侧向内筒内的气体照射光，在所述导管的另一端侧检测穿透气体的光，由此得出气体中的成分浓度，

在所述校准状态下，向内筒内填充校准用气体，并且从所述导管的一端侧向内筒内的校准用气体照射光，在所述导管的另一端侧检测穿透校准用气体的光，由此进行校准。