[发明专利]低频微振动声光调制检测装置无效

专利信息
申请号: 201210083376.4 申请日: 2012-03-27
公开(公告)号: CN102620810A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 苗扬;王少萍 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01H9/00 分类号: G01H9/00
代理公司: 西安永生专利代理有限责任公司 61201 代理人: 申忠才
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 低频 振动 声光 调制 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:在支架(11)上设置隔震垫(10)、隔震垫(10)上设置有水箱(8),水箱(8)的上端设置安装有注水管盖(6)的注水管(7),水箱(8)左侧壁上设置安装有半导体激光器(3)的托架(2)、水箱(8)左侧壁半导体激光器(3)的激光出射方向设置有光阑(14)和位于光阑(14)上方的CCD摄像头(4),CCD摄像头(4)通过导线与计算机(1)相连,水箱(8)前侧壁上设置有液位视窗(9),水箱(8)底部中心孔上设置有与水箱(8)内相联通的探管(13),探管(13)下端内设置有永久磁体(12)。

2.按照权利要求1所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的探管(13)为橡胶软管,永久磁体(12)设置在橡胶软管内下端。

3.按照权利要求1所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的探管(13)为在两根直管之间联通有可隔振的波纹管,上面一根直管的上端设置在水箱(8)底部的中心孔上,下面一根直管下端内设置有永久磁体(12)。

4.按照权利要求1或2或3所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的永久磁体(12)上表面与水箱(8)内水面的垂直距离为150mm。

5.按照权利要求1所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的水箱(8)底部中心孔的孔径为10mm。

6.按照权利要求1所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的半导体激光器(3)的波长为635nm。

7.按照权利要求1所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的水箱(8)内横截面为10×10cm2的正方形。

8.按照权利要求1或3或5所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的水箱(8)为不透光水箱。

9.按照权利要求4所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的水箱(8)为不透光水箱。

10.按照权利要求1所述的低频微振动声光调制检测装置,其特征在于:所述的光阑(14)的孔径为2.3mm。

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