[发明专利]校正X射线探测器的探测器数据的方法和X射线拍摄系统

权利要求书

1.一种用于校正X射线探测器(C3，C5)的探测器数据的方法，其特征在于，在当前测量中关于整个X射线探测器或者关于X射线探测器的局部区域，就由此引起的测量灵敏度衰减以及测量灵敏度衰减的恢复来说，考虑X射线探测器(C3，C5)的射线负荷的历史，并且通过取决于射线负荷历史的校正因数来校正确定的测量信号。

2.根据上述权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校正因数至少也取决于整个X射线探测器(C3，C5)或者X射线探测器的局部区域的辐照的持续时间。

3.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，所述校正因数至少也取决于整个X射线探测器(C3，C5)或者X射线探测器的局部区域的辐照的强度。

4.根据上述权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述校正因数至少也取决于整个X射线探测器(C3，C5)或者X射线探测器的局部区域的辐照的频谱组成。

5.根据上述权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述校正因数至少也取决于整个X射线探测器(C3，C5)或者X射线探测器的局部区域的辐照间歇的持续时间。

6.根据上述权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，还确定在当前扫描期间出现的射线负荷并且计入各个当前校正因数的计算。

7.根据上述权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，在计算校正因数时假定探测器材料的就对X射线信号的信号响应中的衰减来说的倒数指数特性。

8.根据上述权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，假定探测器材料的就对X射线信号的信号响应随着时间的恢复来说的指数特性。

9.根据上述权利要求8所述的方法，其特征在于，所述探测器材料的就对X射线信号的信号响应随着时间的恢复来说的指数特性通过至少两个具有不同时间常数的指数函数的和来表达。

10.根据上述权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，对历史的采集和校正逐信道地进行。

11.根据上述权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，对历史的采集和校正逐像素地进行。

12.一种X射线拍摄系统，特别是在CT系统或C形臂系统(C1)中的X射线拍摄系统，所述X射线拍摄系统具有探测器(C3，C5)和读取装置，该探测器具有按照组逐信道地读取的多个探测器元件，该读取装置具有计算机辅助装置(C10)以用于在将探测器数据进一步处理为投影的或断层造影的图像之前校正读取的探测器数据，其特征在于，所述计算机辅助装置(C10)具有在其中存储了程序代码(Prg₁-Prg_n)的存储器，该程序代码在运行时执行根据上述权利要求中任一项所述的方法。