[发明专利]微小粒子分析装置及微小粒子分析方法

权利要求书

1.一种微小粒子分析装置，包括：

光照射单元，被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子；以及

检测单元，被构造为检测由被所述激光束照射的所述微小粒子发出的光；其中，

所述光照射单元至少包括：

光源，由半导体激光器构成，

光纤，将由所述光源产生的所述激光束的光束形状转变为顶帽型光束形状，以及

光源驱动控制单元，被构造为向所述光源提供驱动电流，所述驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。

2.根据权利要求1所述的微小粒子分析装置，其中，所述光源驱动控制单元至少包括高频振荡器、宽带放大器和电流开关电路，并且所述高频振荡器、所述宽带放大器和所述电流开关电路以直流方式耦合。

3.根据权利要求2所述的微小粒子分析装置，其中，所述电流开关电路是发射极耦合电路，且基于从不与所述光源连接的输出端取出的平均电流来调节叠加电流。

4.根据权利要求1所述的微小粒子分析装置，其中，所述光纤的位于输出端一侧的纤芯的截面形状是矩形和大致矩形之一。

5.根据权利要求1所述的微小粒子分析装置，其中，所述光照射单元还包括被置于所述光源与所述光纤之间的声光元件。

6.一种微小粒子分析方法，包括：

在使得从由半导体激光器构成的光源发出的激光束入射到光纤上、并且通过所述光纤将所述激光束的光束形状转变为顶帽型光束形状之后，利用转变后的激光束照射在流路中流动的微小粒子；以及

检测由被所述激光束照射的所述微小粒子发出的光，其中，

通过将高频电流叠加到直流上而获得的驱动电流被提供给所述光源。