[发明专利]瞬变电磁数据快速准确的边框影响校正方法

权利要求书

1.一种瞬变电磁数据快速准确的边框影响校正方法，其特征在于：通过以下步骤实现： 

（1）、根据野外实测数据                                               ，利用中心回线晚期视电阻率计算公式

计算各点相应的视电阻率，式中亨/米，S_T为发送回线面积，S_R为接收线圈面积，t为测道时间，为归一化感应电动势是瞬变值，为视电阻率，π为圆周率；

（2）、根据趋肤深度估算公式

计算相应视深度，式中，为视深度，为经验参数，为视电阻率，为测道时间；

（3）、通过对应的视深度—晚期视电阻率关系构建“厚度—电阻率”正演模型；

（4）、根据步骤3给定模型通过

计算发射回线中心位置和实际位置的频域电磁场，式中为观测场点与回线正中心点的偏移距离，为垂直磁场强度，为电流，为线圈半径，为波长，表示函数，表示贝塞尔函数；

（5）、通过    

计算该点在发射回线中心位置和实际位置的正演时域二次场值和，式中为观测场点与回线正中心点的偏移距离，为垂直磁场强度变化率，为电流，为线圈半径，为波长，表示函数，表示贝塞尔函数，为角频率；

（6）、根据    

求取修正参数；

（7）、根据   

计算校正后实测归一化感应电动势；

（8）、预先指定的一个数，若误差

则完成修正过程，式中等于每一测点测道数目，为修正测点所在发射回线的中心点实测值，若不满足上式，令

重复整个重复步骤（1）至（8），直到满足上式为止。

2.根据权利要求1所述的一种瞬变电磁数据快速准确的边框影响校正方法，其特征在于：所述的步骤（8）中的值为相对实测值差上3个以上数量级的数。

3.根据权利要求2所述的一种瞬变电磁数据快速准确的边框影响校正方法，其特征在于：所述的步骤（8）中的的值为0.00001。