[发明专利]异物清除设备和包括异物清除设备的光学设备

权利要求书

1.一种异物清除设备，包括：

光学构件；

压电元件，其被设置至所述光学构件；

驱动控制单元，用于以第一驱动模式、第二驱动模式和第三驱动模式来驱动所述压电元件，其中，所述第一驱动模式用于激励所述光学构件的第一弯曲振动，所述第二驱动模式用于激励所述光学构件的第二弯曲振动，所述第三驱动模式用于同时激励所述第一弯曲振动和所述第二弯曲振动，所述第二弯曲振动具有与所述第一弯曲振动的阶次不同的阶次；

振动检测单元，用于检测在所述驱动控制单元以所述第一驱动模式和所述第二驱动模式驱动所述压电元件时所述光学构件的振动；以及

驱动参数生成单元，用于基于在所述驱动控制单元以所述第一驱动模式驱动所述压电元件时所检测到的所述光学构件的振动和在所述驱动控制单元以所述第二驱动模式驱动所述压电元件时所检测到的所述光学构件的振动之间的时间相位差，确定在所述驱动控制单元以所述第三驱动模式驱动所述压电元件时的驱动参数，

其中，所述驱动控制单元使用通过所述驱动参数生成单元所确定的驱动参数，以所述第三驱动模式驱动所述压电元件。

2.根据权利要求1所述的异物清除设备，其特征在于，

在所述压电元件上形成有驱动电极和传感器电极，

所述驱动控制单元通过向所述驱动电极施加电压来驱动所述压电元件，以及

所述振动检测单元根据来自所述传感器电极的输出来检测所述光学构件的振动。

3.根据权利要求2所述的异物清除设备，其特征在于，

所述压电元件包括设置在所述光学构件的一端处的第一压电元件和设置在所述光学构件的另一端处的第二压电元件，

在所述第一压电元件处形成有第一驱动电极和第一传感器电极，

在所述第二压电元件处形成有第二驱动电极，

在所述驱动控制单元以所述第一驱动模式驱动所述第一压电元件和所述第二压电元件时和在所述驱动控制单元以所述第二驱动模式驱动所述第一压电元件和所述第二压电元件时，所述驱动控制单元都向所述第一驱动电极施加相位相同的电压，以及

在所述驱动控制单元以所述第一驱动模式驱动所述第一压电元件和所述第二压电元件时以及在所述驱动控制单元以所述第二驱动模式驱动所述第一压电元件和所述第二压电元件时，所述振动检测单元都根据所述第一传感器电极的输出来检测所述光学构件的振动。

4.根据权利要求1所述的异物清除设备，其特征在于，

在所述驱动控制单元以所述第一驱动模式和所述第二驱动模式驱动所述压电元件时，所述驱动控制单元向所述压电元件施加第一电压，

在所述驱动控制单元以所述第三驱动模式驱动所述压电元件时，所述驱动控制单元向所述压电元件施加第二电压，以及

所述第一电压低于所述第二电压。

5.根据权利要求1所述的异物清除设备，其特征在于，

在所述驱动控制单元以所述第一驱动模式和所述第二驱动模式驱动所述压电元件时，所述驱动控制单元以第一驱动时间驱动所述压电元件，

在所述驱动控制单元以所述第三驱动模式驱动所述压电元件时，所述驱动控制单元以第二驱动时间驱动所述压电元件，以及

所述第一驱动时间短于所述第二驱动时间。

6.根据权利要求1所述的异物清除设备，其特征在于，还包括：

存储器，用于存储通过所述驱动参数生成单元所确定的驱动参数；以及

计时器单元，用于测量从所述驱动控制单元以所述第三驱动模式驱动所述压电元件起的经过时间，

其中，在所述计时器单元所测量出的经过时间在预定范围内的情况下，所述驱动控制单元在不使所述驱动参数生成单元工作的情况下、使用所述存储器中所存储的驱动参数以所述第三驱动模式驱动所述压电元件。

7.根据权利要求1所述的异物清除设备，其特征在于，还包括：

温度检测单元，用于检测所述光学构件周围的周围温度；以及

存储器，用于与通过所述温度检测单元所检测到的温度相关联地存储通过所述驱动参数生成单元所确定的驱动参数，

其中，在使所述驱动控制单元工作时通过所述温度检测单元所检测到的温度在基于所述存储器中存储的温度所设置的预定范围内的情况下，所述驱动控制单元在不使所述驱动参数生成单元工作的情况下、使用所述存储器中所存储的驱动参数以所述第三驱动模式驱动所述压电元件。