[发明专利]调试电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种调试电路。

背景技术

在主板设计阶段，硬件工程师不可避免的需要对主板线路进行调试，以满足设计要求。而线路调试最基本的就是改变电阻电容的阻值、容值来调试线路信号是否满足要求。这样工程师就需要在主板上不断的更换不同阻值或容值的元器件，这样极度的耗费人力工时，进而拖延了项目开发进度。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种方便快捷的调试电路。

一种调试电路，包括若干具有不同电阻值的电阻、若干具有不同电容值的电容、与电阻相同数量的第一开关、与电容相同数量的第二开关、一第三开关、一第一连接端、一第二连接端及一第三连接端，每一电阻的第一端均与第一连接端相连，每一电阻的第二端连接一对应第一开关的第一端，每一第一开关的第二端均与第二连接端相连，还均与第三开关的第一端相连，所述第三开关的第二端与所述若干电容的第一端相连，每一电容的第二端连接一对应第二开关的第一端，所述若干第二开关的第二端均与第三连接端相连；当所述第一连接端及第二连接端与待调试电路相连且第三开关断开时，通过控制若干第一开关的状态将具有不同电阻值的电阻接入待调试电路；当所述第二连接端及第三连接端与待调试电路相连且第三开关闭合时，通过控制若干第二开关的状态将具有不同电容值的电容接入待调试电路。

上述调试电路通过控制若干开关的状态以及第一至第三连接端的连接关系，可方便的实现改变主板上的电阻或电容来对主板进行调试。

附图说明

图1是本发明调试电路的较佳实施方式的电路图。

主要元件符号说明

电阻R1-R4电容C1-C4电阻选择开关SW11-SW14电容选择开关SW21-SW24RC选择开关SW5第一连接端TP1第二连接端TP2第三连接端TP3

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

请参考图1，本发明调试电路的较佳实施方式使用于主板的开发过程中，所述调试电路包括若干具有不同电阻值的电阻（本实施方式中以四个电阻R1-R4为例进行说明）、若干具有不同电容值的电容（本实施方式中以四个电容C1-C4为例进行说明）、若干电阻选择开关（本实施方式中以四个第一开关SW11-SW14为例进行说明）、若干电容选择开关（本实施方式中以四个第二开关SW21-SW24为例进行说明）、一RC选择开关SW3、一第一连接端TP1、一第二连接端TP2及一第三连接端TP3。