[发明专利]矩阵开关模块中继电器开/关次数实时记录装置及采用该装置实现开/关次数记录的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种矩阵开关模块中继电器开/关次数实时记录装置及采用该装置实现开/关次数记录的方法，属于自动测试领域。 

背景技术

矩阵开关是自动测试系统中信号传输和分配的中枢，借助矩阵开关系统的不同组态可以充分利用自动测试系统的有限资源，实现各种检测和激励信号的灵活利用，因此矩阵开关模块的可靠性将直接影响自动测试系统的稳定性。 

自动测试系统中的矩阵开关仪器通常使用继电器作为切换信号的矩阵开关，然而继电器矩阵开关的电气寿命是有限的，一般为10⁵次。随着使用次数的增加，继电器损坏的概率急剧增加。特别是在一些高可靠性的使用场合，对继电器的矩阵开关稳定性要求更高。 

发明内容

本发明的目的是为了解决随着使用时间增长继电器损坏的概率急剧增加和矩阵开关中继电器的电气使用寿命短的问题，设计了矩阵开关模块中继电器开/关次数实时记录装置及采用该装置实现开/关次数记录的方法。 

本发明所述的矩阵开关模块中继电器开/关次数实时记录装置，它包括矩阵开关切换命令缓冲单元、矩阵开关切换命令译码单元、E²PROM读写控制单元、计数缓冲单元、数据校验单元和串行E²PROM存储单元，所述的矩阵开关切换命令缓冲单元为先入先出存储器， 

矩阵开关切换命令译码单元的矩阵开关切换命令输入端连接缓冲单元的 切换命令输出端，所述矩阵开关切换命令译码单元的继电器编号输出端连接E²PROM读写控制单元的继电器编号输入端，所述E²PROM读写控制单元的串行数据读写端口连接串行E²PROM存储单元的串行数据读写端口，所述E²PROM读写控制单元的缓存数据读写端口连接计数缓冲单元的数据读写端口，数据校验单元的串行数据读写端口连接串行E²PROM存储单元的串行数据读写端口，所述数据校验单元的缓存数据读写端口连接计数缓冲单元的数据读写端口，所述数据校验单元的控制信号输出端连接E²PROM读写控制单元的重复写缓存控制信号输入端。 

基于上述矩阵开关模块中继电器开/关次数实时记录装置实现开/关次数记录的方法，它包括下述步骤： 

步骤一、E²PROM读写控制单元将串行E²PROM存储单元中存储的继电器已开/关数据读到计数缓冲单元中，所述继电器已开/关数据包括继电器编号及每个编号对应的开/关次数； 

步骤二、矩阵开关切换命令译码单元检测矩阵开关切换命令缓冲单元是否为空，直到所述开关切换命令缓冲单元为非空时，执行步骤三； 

步骤三、矩阵开关切换命令译码单元读取矩阵开关切换命令缓冲单元中的一条命令，并对该条命令进行解析获得该命令对应的继电器编号，然后将该继电器编号写入E²PROM读写控制单元； 

步骤四、E²PROM读写控制单元根据所述继电器编号读取计数缓冲单元中对应的继电器的已开/关次数，并将该已开/关次数值加一，然后将加一之后的已开/关次数值写入串行E²PROM存储单元中替换原数据，同时还将加一之后的已开/关次数值写入计数缓冲单元中替换原数据； 

步骤五、数据校验单元同时读取步骤四中写入串行E²PROM存储单元和计数 缓冲单元中的开/关次数，并判断所述两个开/关次数是否相同，判断结果为是，则数据存储正确，返回执行步骤二，判断结果为否，则数据存储错误，执行步骤六； 

步骤六、数据校验单元控制E²PROM读写控制单元重复执行步骤四中所述的向串行E²PROM存储单元写入已开/关次数值的步骤。 

本发明提出的矩阵开关模块中继电器开/关次数实时记录装置及采用该装置实现开/关次数记录的方法，可对矩阵开关模块中全部继电器的开/关的动作次数进行实时、准确的记录。为使用者合理选择信号通道提供了科学的依据。通过读取每个继电器动作次数，避免使用动作次数较多的继电器信号路径，降低了继电器损坏的概率，使每个继电器的使用均衡化，保证了矩阵开关模块工作的持续稳定性，达到了延长继电器矩阵开关电气使用寿命的目的。 

附图说明