[发明专利]用于自动灯检机的固态颗粒异物检测装置及其方法无效

专利信息
申请号: 201210044175.3 申请日: 2012-02-27
公开(公告)号: CN103293165A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 吴士旭;刘云龙 申请(专利权)人: 刘云龙
主分类号: G01N21/90 分类号: G01N21/90;G01N21/01
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 何为;李宇
地址: 410083 湖南省长沙市麓山南路*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 用于 自动 灯检机 固态 颗粒 异物 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种用于自动灯检机的固态颗粒异物检测装置,其特征在于包括顺序设置的照射光源系统(1)、前向接收傅里叶透镜(7)、前向光电探测器阵列(8)及信号处理系统(14),且该照射光源系统(1)、前向接收傅里叶透镜(7)、前向光电探测器阵列(8)的光学中心设置在同一直线上,该照射光源系统(1)包括顺序设置的激光发射器(2)、准直扩束透镜(3)、空间滤波器(4)及后向发送傅里叶透镜(5),该准直扩束透镜(3)设置于该激光发射器(2)的发射端,空间滤波器(4)设置于准直扩束透镜(3)的后焦平面处,该准直扩束透镜(3)的后焦平面同时也是后向发送傅里叶透镜(5)的前焦平面;该前向光电探测器阵列(8)位于前向接收傅里叶透镜(7)的后焦平面处,且该前向光电探测器阵列(8)电性连接信号处理系统(14);在后向发送傅里叶透镜(5)和前向接收傅里叶透镜(7)之间设有用于置放待检洁净液体介质的旋转机构(11),该旋转机构(11)连接急停机构(12)。

2.根据权利要求1所述的用于自动灯检机的固态颗粒异物检测装置,其特征在于,所述待检洁净液体介质的前部左上方设置有后向光电探测器阵列(9)。

3.根据权利要求1所述的用于自动灯检机的固态颗粒异物检测装置,其特征在于:所述照射光源系统(1)为He-Ne激光发射器或者半导体激光器。

4.根据权利要求1或2所述的用于自动灯检机的固态颗粒异物检测装置,其特征在于:所述前、后向光电探测器阵列(8、9)为光电二极管阵列或CCD/CMOS类型传感器。

5.一种用于自动灯检机的固态颗粒异物检测方法,其特征在于,在对待检洁净液体介质中含有的固态颗粒异物检测前,将装有待检洁净液体介质的容器倒置后复位,再在旋转机构的带动下使装有待检洁净液体介质的容器高速旋转,并使其在急停机构作用下急速停止,同时一经准直扩束后的平行激光束照射向该容器中的待检洁净液体介质,一前向接收傅里叶透镜接收经待检洁净液体介质散射后的激光束,并使接收的激光束汇聚于位于该前向接收傅里叶透镜后焦平面处的前向光电探测器阵列而转换成相应的电压信号输出,该电压信号中包含了待检洁净液体介质中含有的固态颗粒异物的信息,一信号处理系统根据前向光电探测器阵列输出的电压信号变化进行固体颗粒异物的检测。

6.根据权利要求5所述的一种用于自动灯检机的固态颗粒异物检测方法,其特征在于,所述待检洁净液体介质的前部左上方设置有后向光电探测器阵列(9),以接收从待检洁净液体介质前方散射的激光。

7.根据权利要求5所述的一种用于自动灯检机的固态颗粒异物检测方法,其特征在于:所述照射光源系统(1)为He-Ne激光发射器或者半导体激光器。

8.根据权利要求5或6所述的一种用于自动灯检机的固态颗粒异物检测方法,其特征在于:所述前、后向光电探测器阵列(8、9)为光电二极管阵列或CCD/CMOS类型传感器。

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