[发明专利]模拟测试系统程控数字输出控制装置

说明书

技术领域

本发明是一种在模拟集成电路测试系统中添加程控数字输出控制装置的技术，属于半导体测试设备技术领域。

背景技术

随着国际半导体技术的发展以及原材料成本不断上涨，各国对于集成电路的测试成本控制越来越严格。目前国内测试厂家大多使用的是国外的昂贵测试系统，或者专门为测某种类型电路定制的测试系统，比如三极管测试仪，电话振铃电路测试仪等，使用前者极大的增加了企业成本支出，使国内企业在关键设备上依赖于国外企业；而使用后者，降低了企业的生产效率，也使企业的设备投入复杂多样，利用率低。

近年来，现代控制理论和微型计算机技术的飞速发展为研制开发以微型计算机作为控制器的小型测试系统提供了可能。现代集成电路的发展使得电路不再是简单的模拟或者数字类型，更多的是模数混合电路。而传统的模拟系统由于只关注模拟类电路的参数测试，使得模数混合电路无法测试，测试公司不得不采购更新测试设备，导致设备利用率降低，测试成本增高。为此，我公司发明了基于模拟测试系统的程控数字输出控制装置，解决了此类问题。

传统的模拟测试系统中，只关注电路的模拟功能部分的测试，而现代集成电路的飞速发展，使更多的电路集成了数字控制部分的功能，使得电路在测试时必须使用到数字信号控制部分。但目前的大部分模拟电路测试系统并没有数字信号控制部分功能模块，这样混合集成电路的测试就必须通过模拟测试系统测试后转到有数字信号控制部分功能模块的测试系统上再次测试数字功能及性能，造成测试仪器的冗余并且测试程序复杂、效率低下。

发明内容

技术问题：本发明的目的是提供一种在模拟测试系统中添加程控数字输出的控制装置，即模拟测试系统集成数字控制信号技术。

技术方案：本发明的模拟测试系统程控数字信号输出装置包括MCU控制部分，DA输出部分，基准电压放大部分，电压比较部分及信号输出部分。

MCU作为控制整个数字输出的核心部件，控制包括用户数据的输入，DA的输出，比较信号的输出，最终信号输出的开关等部分；

SDA根据用户指令输出所需的高低电平，总共四路输出。每路输出由基准电压放大部分的两路运放组成，放大四倍。

电压比较部分由比较器LM393组成，最终输出由MCU控制输出继电器开关。

有益效果：本发明的程控数字输出技术，在模拟测试系统中添加数字信号控制模块，将使得测试系统具有数模混合电路的测试能力，极大的方便用户用单一的测试仪器完成电路的数字及模拟部分功能及性能的测试。

附图说明

图1是数字输出模块的MCU控制部分，包括接收用户数据的三条通信线，连接DA的通信线，数字信号线，以及控制最终输出继电器的控制线和MCU地址控制线。

图2是SDA输出及放大部分，四路输出同时经过一定倍数的放大。

图3是信号输出及通道开关。

图4是本发明实施原理图。

具体实施方式

图4是本发明实施原理图，模拟测试系统程控数字信号输出的具体实施方式为：

由MCU通过DATA1,CLK1,WR1三线接收用户电压及通道数据（图1）；通过MCU内部专门处理，电路7226的控制脚A0、A1、WR及数据口D0—D7连接至MCU的RB0、RB1、RB2及RC0—RC7用于接受MCU控制，根据接收到的数据从VOUTA， VOUTB，VOUTC，VOUTD传送四路电压输出（图2）；同时，MCU把数字信号的高低电平数据通过74HC373传送给各路运放进行比较及输出，控制数据最终通过74HC373使能输出通道开关开闭（图3）。VOUTC及VOUTD控制LM393的电源电压，可用于控制输出电压的上下门限。