[发明专利]包括中断线路的电子控制装置有效

专利信息
申请号: 201210025379.2 申请日: 2012-02-06
公开(公告)号: CN102630124A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 三上裕基;板桥徹;古田贵彦;白石亮一;高桥雄辅;中村洋明;西山茂纪 申请(专利权)人: 株式会社电装;株式会社村田制作所
主分类号: H05K1/02 分类号: H05K1/02;H01H85/046
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王永建
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 包括 中断 线路 电子 控制 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电子控制装置,其包括用于过电流保护的中断线路。

背景技术

通常,电子控制装置包括熔断器,以防电子控制装置的故障。在小构件密集地布置于其中的电子控制装置中,因为在小构件中的短路故障处产生的短路电流没有达到高安培电流,因此需要花费长时间来由熔断器形成中断。特别是当大熔断器被用于保护多个电子控制装置以便减少熔断器的数量和成本时,需要花费更长的时间。由此,构件的温度可能在中断处升高并且供电线路中的电压降等等可能由于长时间而产生。相反,在共同线路中,例如在供电线路(例如电池路径和接地路径)中,相对高安培的电流流通,所述共同线路供给运行根据电子控制的进步和多样化而安装的许多电路和许多构件所需的电力。由此,设于共同线路路径中的大熔断器的中断电流被进一步增大,并且电子控制装置不能在每个电路或每个构件中的短路故障处保证充分的中断性能。例如在使用于较高温度下并且包括许多已安装装置的车辆的电子控制装置中,以上所述问题变得显著。

JP-A-2007-311467公开了一种印刷电路板控制装置,其中中断线路被设于每个基底中的供电线路中。如果过电流流动,则在每个基底或每个装置中中断线路熔化并且供电线路被中断。

在构件被密集地安装于其中的基底上,例如为连接盘(焊盘)的构件安装线路和共同线路邻近彼此设置,其中一个电子构件被安装在所述构件安装线路上,所述共同线路由包括所述电子构件的多个电子构件共用。由此,通常,由阻焊剂制成的保护层形成于除线路中的构件联接部分之外的线路段上。保护层还形成于设置在构件安装线路和共同线路之间的中断线路上。

中断线路根据过电流产生的热量熔化,并且通过中断线路熔化而产生的熔化导体例如通过膨胀完全地熔掉。由此,中断线路中断构件安装线路和共同线路之间的联接。在以上所述的中断线路中,一部分熔化导体可能有利地不扩散并且可能停留。因此,熔化位置和熔化时间可能改变并且中断线路的中断性能可能降低。

为了形成用于线路段的预定图案,导电层的预定部分由抗蚀剂覆盖而基底被浸入蚀刻液体中,其中所述线路段包括构件密集地安装于其中的基底上的中断线路。预定部分对应于用于线路段的预定图案。由此,由抗蚀剂覆盖的预定部分被留下而其它部分通过蚀刻被移除。

然而,由于线路段的图案形状,因此蚀刻液体不太可能在围绕中断线路的区域处均匀地流动。因此,围绕中断线路的区域不太可能被蚀刻,并且中断线路的线路宽度可能改变。相反,当蚀刻液体不太可能在围绕中断线路的区域处均匀地流动并且停留在所述区域时,所述区域被多于必需地蚀刻并且中断线路的线路宽度可能改变。由此,中断线路的熔化位置和中断线路的熔化时间可能改变,并且中断线路的中断性能可能降低。特别地,与其它线路相比较,中断线路被要求在中断线路和另一个线路的连接部分处具有较窄的宽度。由此,中断线路的中断性能的下降在中断线路和另一个线路的连接部分处更显著。

此外,当中断线路根据过电流产生的热量熔掉时,通过中断线路熔化而产生的熔化导体可能使覆盖基底的保护层断裂并且可能在基底上流动。由此,围绕熔化导体的电子构件和电路可能不利地受熔化导体的影响。特别地,熔化导体可能在密集地设定图案的线路段处引起短路故障。另外,在熔化导体粘附于基底和电子构件的连接部分上的情况下,熔化导体可能通过熔化焊料而在电子构件的联接中引起缺陷,所述焊料被用于使电子构件与基底联接并且具有相对低的熔化温度。

发明内容

考虑到前述问题,本发明的一个目的是提供一种电子控制装置,其可以限制由于中断线路产生的中断性能的下降。

根据本发明的第一方面的电子控制装置包括基底、多个构件安装线路、多个电子构件、共同线路、中断线路和保护层。构件安装线路和共同线路设置在基底上。电子构件安装在相应的构件安装线路上。共同线路与电子构件中的每一个联接。中断线路联接在构件安装线路中的一个和共同线路之间,并且被配置为根据过电流产生的热量熔化以便中断构件安装线路中的一个和共同线路之间经由中断线路的联接。保护层覆盖包括中断线路的基底的表面并且限定开口部分以使得至少一部分中断线路暴露。

在如上所述的电子控制装置中,当中断线路根据过电流产生的热量熔化时,通过中断线路熔化而产生的熔化导体从开口部分流动。由此,熔化导体不太可能停留在中断线路的位置,并且由于中断线路而产生的中断性能的下降可以被限制。

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