[发明专利]一种无机纳米颗粒复合聚酰亚胺薄膜原料分散性的检测方法有效

专利信息
申请号: 201210009376.X 申请日: 2012-01-12
公开(公告)号: CN102590047A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 杜伯学;李杰;胡文佳;刘勇;高宇 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 曹玉平
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 无机 纳米 颗粒 复合 聚酰亚胺 薄膜 原料 分散性 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种无机纳米颗粒复合聚酰亚胺薄膜原料分散性的检测方法,具有如下步骤:

(1)取待测无机纳米复合聚酰亚胺薄膜原料倒入检测容器中,将容器倒满,并在真空环境下去除气泡,再向此试样中放入金属平板电极;

(2)向两极板施加0-10kV交流电压,按0.5kV/s速率从0kV开始增大电压幅值,直至极板间的无机纳米颗粒复合聚酰亚胺薄膜原料放电击穿,记录其击穿电压作为实验检测值;

(3)将步骤(2)的击穿电压检测值与选定的标准值进行比较;该标准值为通过上述实验方法对未添加纳米颗粒的聚酰亚胺原料及标准的分散优良的无机纳米颗粒复合聚酰亚胺薄膜原料进行标准实验测定,多次测量取平均值,将所得实验结果作为标准值;

(4)检测结果分析:检测值与标准值越接近,说明试样中纳米颗粒分散越均匀,无机纳米颗粒复合聚酰亚胺薄膜原料分散性越好。

2.根据权利要求1的一种无机纳米颗粒复合聚酰亚胺薄膜原料分散性的检测方法,其特征在于,所述步骤(3)标准值确定中所用分散优良聚酰亚胺薄膜原料是通过扫描电子显微镜测量确定其分散性优良。

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